调用HAL_FLASH_OB_Unlock()直接进入 HardFaultHandler
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那是给我们做应用开发做比对参考的,没有专门的相应测试代码。
我们自己可以基于各种低功耗模式组织测试代码进行比对、验证。
不是低功耗哦,我看的是运行功耗,表格中也标出了运行不同的测试代码对应的功耗值,所以我想知道Code下面对应的相关测试代码是什么?我想移植一下。
2. 有了这个几乎相同的条件,可以看出运行代码内容会对功耗产生一定影响而已。(也就是不同电路工作时整体耗电有点差异)
3. 这个代码对实际应用没有任何意义,实际应用代码一定与它有很大区别的。(比如单纯无限循环不会出现在应用中)
4. 手册的参数反映了一定的水平值范围,并非绝对值。况且耗电跟温度有关。
5. 如果注重耗电,可以选择STM32低功耗系列产品,那个参数比这好多了。
所以没必要花精力移植这些代码。
我这边测试了几颗芯片发现功耗和你们手册上的数据相差还是挺大的,我猜测是代码的区别,因为不太清楚你们芯片在测试时运行的程序,你们那边方便提供相对应的测试代码吗?
其实从上面的数据上看,运行不同软件耗电差距不大。
如果差距大,多半是外部电路和芯片模式设置还没最佳。具体测试代码我也没见过,况且对实际应用没有天多意义,对芯片厂的验证工程师才有意义。