【ST MCU实战经验】之扫描模式下 ADC 发生通道间串扰

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【ST MCU实战经验】之扫描模式下 ADC 发生通道间串扰

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Tom Chen 提问时间：2014-6-12 10:54 /

该问题由某客户提出，发生在 STM32F103VDT6 器件上。据其工程师讲述：在其产品中，需要使用STM32 的 ADC 对多路模拟信号进行同步采样。在具体的实现上，采用了 ADC 常规通道的扫描模式来完成这一功能。

问题详细描述以及ST官方解答见文档： æ«ææ¨¡å¼ä¸ ADC åçééé´ä¸²æ°.pdf (148.99 KB, 下载次数: 307)