现在手头有个项目,有个一组合开关,内部有好多逻辑组合触点,当打到不同的档位的时候 内有有不同的组合触点闭合。测试要求: 1、用外接电路测试触点逻辑是否正常2,、是测试闭合的触电电阻阻值 现想要使STM32F103扫描触电闭合情况,判断逻辑是否正确,测试闭合触电阻值想用外部提供恒流源传入采样电阻,有arm内部ad采样采集采样电阻两端电压,换算出触点电阻。 问题 现在采样电路是否要接放大电路再接入ad转化,还是直接呢 |
这个看你要求的精度了,和电阻变化的区间了。打个比方,恒流源为10ma,电阻变化范围是10-1000欧姆,输出电压范围就是0.1V-10V,接到单片机肯定会烧了。。。,如果电阻变化范围为1-10欧姆,输出电压0.01V-0.1V,范围太小了,也测不准。而且,直接接,单片机管脚也有灌电流,不是恒流源的电流都加到了电阻上,测出来的也是不准的,至少也要个电压跟随器。 |
感觉小封装不能用独立参考电压有点鸡肋。 |
触点电阻毫欧级的 |