现在手头有个项目，有个一组合开关，内部有好多逻辑组合触点，当打到不同的档位的时候 内有有不同的组合触点闭合。测试要求：
1、用外接电路测试触点逻辑是否正常2,、是测试闭合的触电电阻阻值
现想要使STM32F103扫描触电闭合情况，判断逻辑是否正确，测试闭合触电阻值想用外部提供恒流源传入采样电阻，有arm内部ad采样采集采样电阻两端电压，换算出触点电阻。



问题
现在采样电路是否要接放大电路再接入ad转化，还是直接呢

这个看你要求的精度了，和电阻变化的区间了。打个比方，恒流源为10ma，电阻变化范围是10-1000欧姆，输出电压范围就是0.1V-10V，接到单片机肯定会烧了。。。，如果电阻变化范围为1-10欧姆，输出电压0.01V-0.1V,范围太小了，也测不准。而且，直接接，单片机管脚也有灌电流，不是恒流源的电流都加到了电阻上，测出来的也是不准的，至少也要个电压跟随器。

感觉小封装不能用独立参考电压有点鸡肋。

触点电阻毫欧级的