butterflyspring 发表于 2020-6-18 17:25 刚好有个大神做过，但是现在没有硬件测试，仅供参考。其实和8线的用法差别不大。 ... 伸手党感谢分享，下载学习下。
加入调试口的相关设置不关掉，这时候会引入HSI 高速时钟，导致功耗显著增大并且由于时钟的存在，芯片也不能正常进入HALT模式，所以与用户设计初衷不同。并且用户设计目的是HALT模式，基本没有什么需要调试的了。而退出HALT后的运行逻辑又是可以继续调试的。所以与应用开发需求是一直的。有些产品可以低功耗调试也只是立刻被唤醒来节省时间，调试唤醒后逻辑而已。
天臆弄人 发表于 2019-5-17 13:49 这个是HEX 转BIN出的问题吧，你直接不要用HEX,自己把HEX转好来再用JFLASH烧不就OK 了 ... 我这个是HEX文件，应用限制我只能用HEX，不能用bin烧写
这个我想通了，局部变量不占RAM，全局变量占RAM，Bin文件会存全局变量的信息，也就是说FLAH中会存变量的地址。对与已经初始化的变量，会存初始值。IAR在编译代码的时候会将怎样处理这些变量的代码一起编译进去形成一个完整的程序。放到芯片Flash里之后，无论芯片如何reset，因为flash里面存了所有不可丢失的代码和全局变量的初始值，以及全局变量的地址。这就构成了整个代码逻辑。 比方说，你如果在代码中定义了一个很大的数组，如果你没有赋初值，那么对于芯片来说，FALSH空间不变，因为FLASH只有头地址和尾地址，两个地址值。只是RAM会被占用的大些，如果你给了初始值，那么就要为这个初值分配地FLASH空间，这样会撑大flash.
