谢谢，不过这篇文章我看过了，但是理解下来其对于严格的单bit错误检测的验证仍然缺少手段。特别是，ECC功能发挥作用前的原始数据无法查看，也就无法进一步证明ECC功能的正常性。
另外按照例程RAMECC_ErrorCount可以读取未初始化的区域，但是并不能严格模拟单bit错误的情况，也就导致了下面的问题。 1.想问下STM32官网工程师，是否存在关闭ECC，严格实现单bit和双bit错误的验证，使得可以人为修改某1bit,而后可查看原始数据、经过ECC纠正的数据、以及ECC码 2.flash区ECC功能的验证，是否存在如RAMECC_ErrorCount那样的例程来指导flash区ECC功能的使用。
