您好，我现在利用示波器对SPI信号进行检测，目的是驱动lora芯片，但是现在发射时数据是正确的，但是返回的数据与手册不符合，这是为什么呢
手动测试一下中断，也就是自己模拟一个信号，看看是否正常执行。 另外cube库的架构通过回调函数来在中断里添加自己的程序，尽量遵循CUBE库的架构，改变很可能会引起意想不到的问题。
从手册上可以看出，timer 6 只有内部时钟，所以不用选也没得选。 定时器要配置启动代码，ADC要配置DMA启动并有timer6 触发即可。
可以分步骤调试： 1. ADC 采集的数据是否符合预期 2. ADC 的数据搬运结果是否争取 3. 测试打印函数输出是否正常
您好，现在是这样的，首先我的定时器触发频率为4k，周期即为0.25ms，然后STM32L053的ADC时钟为16M，我对他在Cubemx中配置的采样时间为1.5Cycles，则他的采样时间不就是1.5/16M，所以定时器周期肯定是大于采样周期的。
说实在的，有时有些术语可能容易引起歧义。 你现在是定时器触发ADC转换，如果触发一次得到1个ADC结果，你要把定时器的溢出频率 说成采样率貌似也说得通，这里我们称之为外部触发频率。但如果每触发一次，转换的结果是N个通道的数据呢，还若把定时器的溢出频率就是采用频率就 怎么都不合适了。顺便提醒下，这个外部触发频率也是有边界要求的，手册里有明确出来。 这里对于采样率有明确约定，即采样率=ADC时钟/(采样时间+转换时间），其中采样时间我们配置的，转换时间是固定的，跟ADC的位数有关。 不必纠结那些术语，搞清怎么回事就好，尤其具体应用时。显然，正常来讲这里的定时器触发周期要长于每次启动后ADC所需要的总的采样转换时间。
这个不难的，你可以先找个DMA应用的示例，看懂代码。 建议你使用CubeMx进行配置。 基本流程就是： TIMER事件触发ADC，ADC的转换事件申请DMA传输，DMA将ADC结果运输到内存。 这里有篇 《定时器触发STM32 ADC的采样转换示例》你搜索阅读下。
不知你是否在使用ARM MDK做模拟仿真，可能跟工具版本有关系， 即使硬件仿真可能哪里没配置好，比方FLASH算法选择，甚至硬件连线问题都有可能， 个人曾因连线不可靠也碰到过类似问题。
如果不是精确到某个函数的话，建议使用在线仿真的方式进行。或者在每个函数中增加打印，确定执行到哪个函数后发生的情况。然后再对这个函数的前后关联及代码进行检查。如果能够进入硬件错误中断，可以通过仿真的方式，确认进入中断前的代码位置。
这个地方回帖太费劲了。 发的贴似乎没法再编辑。 使用中断方式修改比较值固然可以。不过，基于中断方式修改CCR的话，对CPU的占用我们要考虑，有些应用场景可能没法接受。这点要注意。
你好，请问使用OC toggle结合DMA的方法，通道1中断准备通道2和3的比较值，然后清除是如何工作的（如，与比较值匹配时，翻转输出0，那么是如何输出1？）
你的信息过于简单，不知你使用的是哪款STM32，除了STM32F1,STM32F3,STM32F4这几个比较老的系列外，其它新的STM32系列的TIMER都支持非对称输出模式，基于这个模式做带相差的PWM输出很方便，你可以研究下。 另外，对于那些不支持TIMER非对称输出的系列，我们可以基于OC toggle模式来实现，不同的通道使用不同的翻转点来实现相差和pwm的调整。你可以搜索一篇《一个定时器实现3路时差和占空比可调的波形》的文章，原理介绍得比较详细了。
通常MCU输出PWM的目的多数都是开关信号，不希望有改变，所以使得三极管工作在开关状态。 但是不同的三级管对频率相应会不同，取决于你的PWM频率。 可以连接个三极管试试看，是不是你期望的。最终也是靠实验建议。
