这个需求的话，不用搞那么复杂，用不到主从触发。 如果被测信号的周期不长于测试用的定时器的溢出周期时， 在需要做测量时就开启某个通道的捕获功能，可以基于上沿或下沿捕获，连续捕获N个值， 这样就可以得到N-1个结果，做下平均即可。作完测量后关闭捕获。 至于捕获值的获取你可以使用查询，也可以使用中断，或DMA。 这里默认定时器使用单向计数模式。
这个问题暂时解决了。首先感谢 xmshao的一篇推荐文章，翻阅后对从CUBEMX开始设置项目，其中tim的选设有了一定了解，有东西大家分享吧。 按照文章中的选设（文中是TIM4，本人采用的是STM32F401RCxx只有T1-T3有外部触发其余的tim只能内部触发）设定Timer2为外部触发产生事件。T1，T3一已在系统中设定为PWM，当然曾考虑到T2具有32为分辨率作为外部触发计数具有独到优势。 具体设置可以参考 xmshao 给的文档此处不再重复，仅仅将我在试验中的测试结果做一描述。先声明，绝对不是最佳方案，仅仅是实现了需要的功能，如此而已。当让后边还会描述进一步想做何用，急需的实验抽空再做了。 本实验希望能对外部信号进行中断计数，“单位”时间数脉冲数，能读一次即可多测更好！ CubeMX设置完成后并不能立即实现需要做一些代码设置。 我的MCU是STM32F401RCxx，主频最高支持84MHz最后设在了外部25MHz晶振，PLL设置到Core Clock为84MHz，许多计算按照文章带入实际上不准确，误差非常大——不是一倍几倍，只能采用测试的方法——当然与找不到这款芯片的用户手册有关——官网和许多技术网站只能搜到几乎一样的技术手册。想搜相关的F4系列的用户手册也无果，这是诟病。 首先设置main前部的time2的初始代码： HAL_TIM_IC_Start_IT(&htim2,TIM_CHANNEL_1); HAL_TIM_IC_Start_IT(&htim2,TIM_CHANNEL_2); __HAL_TIM_ENABLE_IT(&htim2,TIM_IT_UPDATE); __HAL_TIM_CLEAR_FLAG(&htim2,TIM_FLAG_TRIGGER); 后两句也可以先不写。 接着设置tim.c中TIM2中的一句进行测式： sSlaveConfig.InputTrigger =TIM_TS_TI2FP2; 这一句实在CubeMX设置完成后自动生成的，我用了两个Tim4，Tim11想用他们来产生TI2FP2信号，结果无果，既然这种方式不行，那么就采用自己触发采样计数，遍历TIM_TS_TI2FP2，结果搜到了触发定义变量（有用的2个）： TIM_TRGO_OC1; TIM_TRGO_UPDATE; 经过测试两个都能触发tim2进行计数，相对而言前一个函数误差最小。于是更改stm32f4xx_it.c函数中关于time2的中断向量函数，原始如下： /** @brief This function handles TIM2 global interrupt. / void TIM2_IRQHandler(void) { / USER CODE BEGIN TIM2_IRQn 0 */ / USER CODE END TIM2_IRQn 0 / HAL_TIM_IRQHandler(&htim2); / USER CODE BEGIN TIM2_IRQn 1 / / USER CODE END TIM2_IRQn 1 / } 只需要在用户代码中加入一段中断处理函数即可，本思路是：第一个出发沿开始计数，之到第二个触发沿终止计数，为了省事和技术准确(不因中断二占用计数时间)，在中断函数中永远累加计数，在中断处理中完成求此时间间隔的计数值，结果效果比预想的好，加入的代码如下： / USER CODE END TIM2_IRQn 1 / if(__HAL_TIM_GET_FLAG(&htim2,TIM_FLAG_UPDATE)!=RESET){ //__HAL_TIM_CLEAR_IT(&htim2,TIM_IT_UPDATE); __HAL_TIM_CLEAR_FLAG(&htim2,TIM_FLAG_TRIGGER); t2Cnt++;if(t2Cnt>1){t2Cnt=0;kk=ttc;ttc=0;} } ttc++; / USER CODE END TIM2_IRQn 0 / HAL_TIM_IRQHandler(&htim2); / USER CODE BEGIN TIM2_IRQn 1 / 其中ttc是tim2每产生一次沿中断，ttc累加一次； 代码首次运行t2Cnt=0；中断处理函数是首次沿中断，将ttc清0，t2Cnt++；（此时为1） 带第二次沿中断，t2Cnt+1>1, 将ttc的值赋予kk，同时ttc清0；。kk是送LCD显示和计算的计数值。 经过测试，在测试99.99KHz以及1KHz的赔率下的误差都小于1/1000。 美中不足的是，多次循环采样中LCD现实的数据会有个位数的小跳变。当然与偷懒有关——kk开作为按键的测试值显示在LCD上。 证明此方案技术可用。 再次感谢 [xmshao](https://shequ.stmicroelectronics.cn/space-uid-1105.html ！
04.void SysTick_Handler(void) 05.{ 06. /* USER CODE BEGIN SysTick_IRQn 0 */ 07. 08. /* USER CODE END SysTick_IRQn 0 */ 09. HAL_IncTick(); 10. /* USER CODE BEGIN SysTick_IRQn 1 */ 11. 12. /* USER CODE END SysTick_IRQn 1 */ 13.} 在这里面定义了一个全局变量++，也做过外部函数跳转（例如闪个LED），但都不执行！
这个问题已解决。 将采样后加个延时再读取数据就一切正常了。 按照采样通道数量（本实例5个，4个外置，1个内部芯温）采用while（tt--）的方式，tt为130正好，150可靠一些。
谢谢各位网友的关注和回答！已经找到解决问题的方法了。兆易创新也生产兼容STM32的芯片，查了资料几乎完全兼容。正准备尝试使用兆易的GD32Fxxx的芯片。查资料，有GD32F1xx、GD32F2xx、GD32F3xx、GD32F4xx的，不考虑M7或以上的应该够用了，PCB可能也不用改，具体在仔细看看他们的内部区别，如果没有，直接用现成的PCB。谢谢各位！
其实STM就是不开放申请芯片这一项，不然什么问题都没有了。像其他的Freescale、LPC、Aduc、Silincon 、Microchip、Ti等等都申请过。真心希望STM也能网开一面，学生可是未来的市场主人哦。
zhjb1 发表于 2018-6-22 11:55 您好！非常感谢您的指导和帮助！已经确定芯片都是坏的。但问题是，我用J-LINK来测试目标芯片居然他也认为 ... 要不，走正规渠道买几片？ 能看出你的是不是拆机片吗？ 像芯片的问题，这完全不是技术问题，真能把人折腾死
feixiang20 发表于 2018-6-18 02:44 是不是芯片问题啊，每块都尝试下看看 真是绝好主意，手头一块就都没有了。谢谢，您可以这样试。
toofree 发表于 2018-5-21 09:35 这两信号就用NE1和A16之后的，问题不大。 NE1是片选，也就是得在程序中改一下基地址； A16是命令和数据选择 ... 非常感谢，已按照您的方案开始设计了，将来需要改程序中的片选和命令数据控制。
epochal 发表于 2018-1-12 22:22 怎么索取？ 您还想要吗？板子的裸照和测试性能已发到网上，优缺点也以自己做了总结。需要的话，要出快递费的。
哈佛祖安智 发表于 2018-1-4 17:35 屏幕不错 谢谢夸赞，这款是老掉牙的的黑白显示屏，102X65点阵，为了省电，将他降为一个LED的压降——大约2.2V工作，所以背光也较暗。但一共只有1mA多点。
简单的元清 发表于 2018-10-11 17:41 不知道楼主解决问题没？我之前也出现了同样的问题，后面我把BOOT0 拉高后。然后把Flash 全部插除。就可以了 ... 长出差，刚回来，我试试，谢谢
中山无雪 发表于 2018-2-8 19:10 查一下代码中是否有 __HAL_RCC_GPIOD_CLK_ENABLE(); __HAL_RCC_GPIOA_CLK_ENABLE(); 谢谢
本帖最后由 zhjb1 于 2018-6-1 14:57 编辑 不是电源，是在芯片上方有一个ID短接帽，拔掉串接电流表——测试的仅仅是芯片的电流。看照片514两根白线连接的地方。
