1.从信号测量角度看，来自空间，电源上的噪声都会叠加在上面的。我用较大的电阻和较长的杜邦线，看到上百毫伏的噪声信号。 2.从芯片工作原理上看，内部的采样开关也会带来一定的噪声影响，在测量高阻即微小信号时会更明显些。 总之，模拟电路受到外界影响的因素较多，并非完全理想的信号。 官方也有一些笔记介绍ADC相关的内容的。
1.从信号测量角度看，来自空间，电源上的噪声都会叠加在上面的。我用较大的电阻和较长的杜邦线，看到上百毫伏的噪声信号。 2.从芯片工作原理上看，内部的采样开关也会带来一定的噪声影响，在测量高阻即微小信号时会更明显些。 总之，模拟电路受到外界影响的因素较多，并非完全理想的信号。 官方也有一些笔记介绍ADC相关的内容的。
