如题，AD+STM32之间加光耦(光电隔离)是否能够提高数据稳定？
现在做了一块AD7714+STM32F429的采集系统，发现24位的AD7714只达到了13、14位的稳定，查了一下有关资料，说是加入光耦（光电隔离）有助于提高精度？
目前已经加入合适的去耦电容，有了一定的效果，但是还是不够理想。
排除了PCB制板问题不谈（预算有限，4层板已经是极限了），包括加入光耦（光电隔离）在类，还有哪些技术方法可以提高精度？

要达到24位是很难  除上述方法以外再就是提高基准源的精度  电容电感滤波  电路板布线注意走线  防止干扰

加线性光耦没啥用，
优化电路，电源，基准源