你的浏览器版本过低,可能导致网站不能正常访问!
为了你能正常使用网站功能,请使用这些浏览器。

【ST MCU实战经验】上电缓慢导致复位不良

[复制链接]
小书明-2042808 提问时间:2014-5-16 19:50 /
 问题:
该问题由某客户提出,发生在 STM32F103VBT6 器件上。据其工程师讲述:其产品在老化测试中出现个别样机通电后不工作的现象。对该样机重新通电,可以恢复正常。但在后续的测试中还会偶尔重现不工作的现象,呈现很强的随机性。
 
问题详细描述以及ST官方解答见文档: 上电缓慢导致复位不良.pdf (173.12 KB, 下载次数: 8)
收藏 评论0 发布时间:2014-5-16 19:50

举报

0个回答

所属标签

相似问题

关于意法半导体
我们是谁
投资者关系
意法半导体可持续发展举措
创新和工艺
招聘信息
联系我们
联系ST分支机构
寻找销售人员和分销渠道
社区
媒体中心
活动与培训
隐私策略
隐私策略
Cookies管理
行使您的权利
关注我们
st-img 微信公众号
st-img 手机版