问题：
该问题由某客户提出，发生在 STM32F103VBT6 器件上。据其工程师讲述：其产品在老化测试中出现个别样机通电后不工作的现象。对该样机重新通电，可以恢复正常。但在后续的测试中还会偶尔重现不工作的现象，呈现很强的随机性。
 
问题详细描述以及ST官方解答见文档： 上电缓慢导致复位不良.pdf (173.12 KB, 下载次数: 10)

2014-5-16 19:50 上传

点击文件名下载附件
 
ST MCU实战经验栏目，更多应用问题&官方解答，欢迎下载！