你的浏览器版本过低,可能导致网站不能正常访问!
为了你能正常使用网站功能,请使用这些浏览器。
chrome
firefox
safari
ie8及以上
ST
意法半导体官网
STM32
中文官网
ST
全球论坛
登录/注册
首页
技术问答
话题
资源
创客秀
视频
标签
积分商城
每日签到
【应用笔记】在STM32系列中使用CRC外设
资源
类别:
芯片文档 » 应用笔记
循环冗余校验(CRC)技术用于检测数字数据中的错误,但在检测到错误时不进行校正。该技术旨在检查数据传输或数据存储的完整性。在确保数据可靠性方面,CRC技术功能强大且易于实施。该技术的诊断覆盖范围可满足基本安全标准要求。这就是认证符合IEC 60335-1 和 IEC 607030-1 标准(称为“B 级”要求)的ST固件时,在Flash内容完整性自检检查中使用CRC功能的原因。
+ @' W4 Z, \' |) ], n+ H: k' _
/ g+ b1 _- @7 O, ]
赞
0
收藏
0
评论
1
分享
发布时间:2022-6-7 09:52
举报
1
个文档
【应用笔记】在STM32系列中使用CRC外设.pdf
请先
登录
后回复
1个回答
keson
回答时间:2022-12-6 11:33:46
a1024a.1 544b0c
学习学习
赞
评论
回复
支持
反对
所属标签
程序
推荐资源
【应用笔记】LAT1483 带TrustZone的按键点灯工程示例
【应用笔记】LAT1492 TrustZone版的按键点灯程序下载调试
【应用笔记】LAT1432 变频控制中的TIMER寄存器更新话题
【应用笔记】LAT1428 在应用代码中添加 no_init 变量的方法总结
【应用笔记】LAT1471 Flash全片自检过程中巧用Linker自定义变量
关于
意法半导体
我们是谁
投资者关系
意法半导体可持续发展举措
创新与技术
意法半导体官网
联系我们
联系ST分支机构
寻找销售人员和分销渠道
社区
媒体中心
活动与培训
隐私策略
隐私策略
Cookies管理
行使您的权利
官方最新发布
STM32N6 AI生态系统
STM32MCU,MPU高性能GUI
ST ACEPACK电源模块
意法半导体生物传感器
STM32Cube扩展软件包
关注我们
微信公众号
手机版
快速回复
返回顶部
返回列表