
前言 在各种应用场景中,比如电机,电源,变频器等应用中,ADC的采样点会有很严格的要求,如果采样点选择错误,会给整个控制系统造成严重后果,本文针对STM32Fxxx的PWM波硬件间隔ADC采样实现方式做简要介绍;/ k5 C: M. p( @$ ]) e; K- l) u* V ; I, y8 P8 Z( h$ s; g/ ? PWM硬件触发ADC6 i& O0 w/ D% B' f/ K0 f: Q 在STM32Fxxx中Timer1一般用于产生互补输出的ADC,一般的设定都是使用PWM波中心点,或者是Timer1的第四通道(TIM1_CH4) 作为ADC的触发输入信号(可改变采样点的选取);该设定一般是每个PWM周期触发ADC采样一次,软件设定也比较成熟:& K4 R# h; {' D7 Z PWM波中心点触发ADC设定:! p2 R7 K9 [% f2 U+ v; Y ![]() TIM1_CH4作为ADC的触发信号设定: + S- C# f7 C( I ![]() C8 ^* O- r0 [) ~1 w6 B& l v5 W PWM硬件间隔触发ADC6 I5 B) |- e, j+ v" d 有些应用场景下,ADC硬件触发转换结束后会进行系统的关键程序的计算,比如电机的FOC算法,电源的电流环控制等,当客户使用的芯片速度没有足够快,比如使用了STM32F0xx(48MHz主频),或者PWM波太快,比如电源60KHZ的PWM波,在一个PWM波周期内无法完成ADC转化以及核心算法计算,这时候需要在2个PWM周期或者是多个PWM周期进行ADC的触发转化,此时就需要将ADC的硬件触发转化变为间隔采样; ![]() 6 g. m: O3 n* R0 T! l; e2 L [) R PWM波中心点间隔触发ADC设定 在STM32Fxxx中最直接有效的设定,使用Repetition寄存器,同时设定Timer1的update信号作为触发输出,图一的蓝色箭头即为此种情况的触发点设定" b- R4 y" T- a* M ![]() ' G3 [8 G/ c: p2 |7 v% e 可改变采样点的间隔触发ADC设定 j; s* W& V _; J4 g 可改变采样点的间隔ADC触发,即图一中的绿色箭头,使用TIM1_CH4这种方式不能实现纯硬件触发采样,这种情况下有两种方法可实现这个采样方式:; K6 A) j9 @1 P& \8 ?" Z 一,硬件触发+软件计数方式$ D; U7 W. E' {0 S! s# } ADC的采样及转化时间很短,基本上需要间隔采样方式,时间基本上都是消耗在算法实现上,所以可以采用每个PWM周期都进行硬件触发ADC,但算法计算则是间隔实现,使用全局变量的计数方式,也就是在ADC转换完成结束后,进行计数,当计数值达到间隔采样数据后才进行算法计算,这种方法即兼容了ADC可改变采样点以及间隔计算的目的,比较实用; 二,纯硬件方式0 M0 J# I! x0 i; v) | 此时需要引入辅助Timer来实现,辅助Timer的频率设定为Timer1的倍数关系,倍数的数值设定为间隔周期,辅助Timer的比较寄存器数据设定为采样点的数据(比如上面所说的TIM1_CCR4)' E' V8 ~+ @8 f: W. _ ![]() 1 Y4 m& F0 C. a5 A 3 F. N( w* P% t5 v2 y5 p 5 M8 c4 o) q( x8 L+ n 文档下载 更多实战经验 |
怎么设置为一次啊, 高电平中间触发adc采样