使用STM32F407自带的芯片对外部10KHZ的信号进行采集，采样时间程序中写的是112个周期，在实际测试过程中发现，比如我上午测试的值，与下午测试的值有明显的差别，测试信号比较稳定，大大超出了信号波动的范围。甚至在同一个时间点进行测试，随着时间的推移，采样的值会逐渐增大？请问这是什么原因造成的？

这样，你要区分，究竟是STM32 ADC的产生波动，还是采集对象引起的波动；
方法是，上下无均采集恒压源，看得值变化否，这样能否区分，明白？

环境变化【如温度等】会影响ADC值啊

mikecai 发表于 2019-11-13 17:28
环境变化【如温度等】会影响ADC值啊

可是变化幅度过大，有200mv波动

Vref+ 和Vref- 没有变化吧？

方法是，上下午均采集恒压源，看得值变化否，这样能否区分，明白？

dataozi 发表于 2019-11-14 09:12
Vref+ 和Vref- 没有变化吧？

没有变化

mikecai 发表于 2019-11-14 09:23
方法是，上下午均采集恒压源，看得值变化否，这样能否区分，明白？

采集过恒压源，没有变化

那就是说， CPU 本身 ADC 工作环境没变化，是 采集对象的工作环境引起的 电压值变化，那您晓得该查啥了？

mikecai 发表于 2019-11-14 13:41
那就是说， CPU 本身 ADC 工作环境没变化，是 采集对象的工作环境引起的 电压值变化，那您晓得该查啥了？ ...

我测的信号是10KHZ的，并且一直在变化，有没有可能是因为信号不断地变化引起测量不准确

那您找硬件工程师帮忙，用示波器测试被测信号 幅值 上下午 是否变化，变化多少

VDDA 和 VREF 引脚上要看的是纹波是否变化哦