前言
本篇LAT的内容简介了一个由RAM上电后初始值引起的问题。

问题
$ Q. S2 v) |5 Q客户反映，某产品试生产时出现问题，故障率在10%左右。该故障可以复现，并且将芯片（MCU）更换到新的电路板也无法解决。因此，客户怀疑是芯片出现质量问题。
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分析
粗看下来，故障确实比较象是由于芯片本身质量引起的。但是仔细查看代码，发现程序中有一段值得怀疑。该部分代码利用RAM中某个字节的值来判断芯片是否发生过掉电，并据此执行不同的分支。
* r2 f% M* H4 r; l一般而言，在芯片上电以后但是没有进行初始化之前，那么RAM（这里不包括寄存器）中的值是随机的。客户开发时曾询问过这一点，所以开发时加以利用。
那么，究竟该怎么理解这个“随机”呢？
" y+ _# q, v& a/ m$ Q这里“随机”的意思是，任何值都是可能的。因此，当芯片发生若干次掉电上电时，对同一个RAM字节来说，里面的值可以每次都不一样，也可以每次都一样，也可以有时一样有时不一样。因此，应理解这个“随机”为“不保证为任何值”。
而客户恰恰认为，既然是随机的，那么每次值都应该是不同的。
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处理
6 N9 C$ u7 W& R4 Y/ `综上分析过程，尽管思路是完全可行的，但是由于对“随机”的含义理解错误，所以程序中只判定RAM中一个字节的值存在一定的风险。
/ _5 e5 W: ?! _/ ?4 o解决方法是在判定条件中，将判断1个字节的值更改一下，例如判断3个字节（或者更多）的值是否相同（可以使用多数判决）。同时，选取这3个字节的时候，尽量使得它们的地址分散一些。这样，误判的概率就大大降低。
. \6 z. [+ j2 g7 w8 g# }( i- V对于某些芯片来说，还有其他的判断方法。例如，对于STM32系列来说，在寄存器RCC_CSR寄存器中的最高位一般都是上电标志；此外，对于部分产品，还可以在BKP_DR（或者是RTC_BKP之类，根据产品不同）寄存器中写入特定序列来判断。

结论
此例实际上是由于对“随机”一词的理解不同造成的问题，而非芯片质量问题。经过重新修改程序后，该问题不再出现。


详细解答请下载文档：https://www.stmcu.org.cn/document/detail/index/id-216738
更多实战经验文档请见：https://www.stmcu.org.cn/document/list/index/category-657
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看来楼主要讲讲冷复位和热复位的问题了。