目前使用ST芯片(STM8L151系列)的所做的产品在认证过程中提出需要MCU芯片自检,有没有CLASSB 自检相关的库函数或者例程提供?有知道的请尽快告知,十分感谢!
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这种方法已经嵌入程序中,认证方认为这种方法不符合CLASS B设计要求
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最近又找了一下,找到官方集成的测试库了
符合IEC60370标准,对MCU的寄存器、时钟、终端、串口、AD做自检。
这个还真没做过,平时做UL的
UL认证也有,其他认证的也有,各种各样的要求