出错处理

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检测过程如果出现错误，程序会进入FailSafePOR，该函数的目的就是提供一个统一的处理出口。

问题汇集

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1. 编译报错：.\Boot_Flash_ClassB.sct(40): error: L6236E: No section matches selector - no section to be FIRST/LAST.

经检查发现是sct文件中的startup_xxxx.o和实际工程中的startup_xxx.s文件名称不一致，因为移植时直接将例程中的sct文件拷贝过来了。修改后解决。

2. 编译报错：

STM32F207Nucleo-ClassB\STM32F207Nucleo-ClassB.axf: Error: L6218E: Undefined symbol STL_InitClock_Xcross_Measurement (referred from stm32fxx_stlclockstart.o).

STM32F207Nucleo-ClassB\STM32F207Nucleo-ClassB.axf: Error: L6218E: Undefined symbol StartUpClock_Config (referred from stm32fxx_stlstartup.o).

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在main.c和stm32f2xx_it.c中添加对应的函数，变量定义以及include头文件，参考例程。

3.

编译时计算CRC报错：

Extracting CRC address from MAP file

FINDSTR: Cannot open STM322xG_EVAL\STM322xG_EVAL.map

这是因为例程中的crc_gen_keil.bat中默认的HEX文件名称和路径和新项目不一致，按新项目进行修改就可以解决。

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4. 调试时Flash CRC检测通不过

检查是否在KEIL的options->Debug,和Options->Utilities中添加crc_load.ini，在调试和下载时使用写入了正确CRC值的HEX文件。如果你是直接拷贝例程中的crc_load.ini文件的话，还要检查一下里面的内容，hex文件的名字和路径和实际工程的是否一致。

5. RAM测试之后进hardfault

RAM检测是破坏性检测，RAM里的数据都会丢掉。检查一下程序里是否直接用了RAM里的数据。另外stm32fxx_STLtranspRam.c的优化等级要降到0。

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6. 调试时去掉部分模块的检测，要特别注意flowcontrol的检测。

control_flow_check_point（）调用会出错，建议将control_flow_check_point（）函数先屏蔽掉。

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7. 使能STL_VERBOSE_POR后，第一次上电启动总是失败。经检查是串口输出出错。在STL_StartUp函数中执行USART_Configuration时，因为huart->gState不等于 HAL_UART_STATE_RESET，所以HAL_UART_MspInit函数没有执行，串口并没有成功初始化。解决方法：在HAL_UART_Init之前调用__HAL_UART_RESET_HANDLE_STATE(&huart3)，将huart->gState状态复位成 HAL_UART_STATE_RESET

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8. 运行时的时钟检测总是失败。检查一下当前的系统时钟配置系统，以及给TIM5的APB1

时钟的配置是否和例程中的一样，如果不一样的话，HSE_LimitHigh/HSE_LimitLow， HSI_LimitHigh/HSI_LimitLow的公式就要修改。

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9. 添加了运行时检测的代码后，程序总是复位。这种情况建议检查一下看门狗“喂狗”时间设置得是否合理。可以先关闭看门狗，以确认是否是其引起的问题。

你好 ，我们在移植官方的classb库的时候遇到了许多棘手的问题，无法解决，望请您帮忙支持和分析一下，谢谢！！
        问题如下：
, X  K  k7 x' X2 U. Y/ c            1：程序上电进入 STL_StartUp();STL_StartUpCPUTest() 可以通过，然后继续 STL_WDGSelfTest();检测，执行第一条 if (__HAL_RCC_GET_FLAG(RCC_FLAG_PINRST)  != RESET) printf("Pin reset \r\n");就进入HardFault_Handler故障了。然后我把STL_StartUpCPUTest() 检测屏蔽掉之后， STL_WDGSelfTest()检测就能正常通过
5 ]3 s# D* P8 ^8 }2 [7 \$ h: O5 @2：在flash  的crc校验是crc_result和REF_CRC32判断，每次更新代码编译后所计算的crc_result值都是不一样的，但是REF_CRC32一直都是固定的值，就是在stm32f103xe.s 定义的__Check_Sum值，难道每次更新代码编译都需要修改这个值吗？这里不知道他的机制是怎样的，__Check_Sum是如何设置的呢？
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3：在flash检测完以后，后面的RAM检测，时钟检测，程序控制流检测等全部检测都无法通过。时钟检测时，芯片会直接挂死，不知道为何？

5 o7 j: T* k0 N( F9 m4：GotoCompilerStartUp函数 中的__main（）和__main 有何区别，我在使用__main()程序执行结果是挂死，但是使用__main是可以正常跳转到程序的主函数main的
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