
STM32 ADC内部原理 01 前言 6 t0 L; V* `% Q. G 用了这么久ADC,从没细看过ADC的内部原理和如何获得最佳精度,今天看到一篇ST的官方文档讲的不错,这里整理分享给大家。; g! G( p2 J; z4 b& d8 _7 ~: u 02 SAR ADC内部结构 8 {0 ]# d5 H' u: e `! [ STM32微控制器中内置的ADC使用SAR(逐次逼近)原则,分多步执行转换。转换步骤数等 于ADC转换器中的位数。每个步骤均由ADC时钟驱动。每个ADC时钟从结果到输出产生一 位。ADC的内部设计基于切换电容技术。 5 |4 [5 f% p1 o/ M, ? 下面的图介绍了ADC的工作原理。下面的示例仅显示了逼近的前面几步,但 是该过程会持续到LSB为止 >>SAR切换电容ADC的基本原理(10位ADC示例) 带数字输出的ADC基本原理图 ![]() >>采样状态4 K' s) k& T$ I4 `5 \6 U i& S' D 采样状态:电容充电至电压VIN。Sa切换至VIN,采样期间Sb开关闭合 ![]() >>保持状态 保持状态:输入断开,电容保持输入电压。Sb开关打开,然后S1-S11切换至接地且Sa切换至VREF。2 d( @. k: P4 X$ t& ]7 H' V ![]() >>逐次逼近+ L& i+ A2 z& v: T" h 1、第一个逼近步骤。S1切换至VREF。VIN与VREF/2比较 ![]() 2、如果MSB = 0,则与¼VREF进行比较,S1切换回接地。S2切换至VREF。1 v! x. g6 L. F: Q3 k ![]() 3、如果MSB = 1,则与¾VREF进行比较,S1保持接地。S2切换至VREF。# T k# E. B7 S4 z' f7 m: d ![]() 重复如上步骤,直到LSB为止。可以简单理解为二分法逐次进行输入电压与参考电压的比较。首次于VREF/2比较,下次比较根据上次比较结果决定,如果MSB=1则与¾VREF比较。如果MSB=0则与¼VREF比较。后面决定与1/8VREF 3/8VREF、 5/8VREF、 7/8VREF之一做比较。循环直到输出LSB为止。 ; K- A5 m3 {. ]. }2 C" M/ q2 Y |