我所在的实验室购入了意法半导体型号为STM32F417ZGT6的ARM主控芯片，在计算项目总体的可靠性时需要用到该元件的可靠性数据，请问我可以在哪里找到该元件的平均无故障工作时间（MTBF, Mean Time Between Failure）的实验数据、预计寿命或者FIT（failures in time）数据吗？或者有人能提供这些数据吗？我在官网阅读datasheet时并没有找到关于寿命或者失效时间的相关数据。

芯片手册不是有吗？实验数据是实验室所得，不代表实际工作环境

MTBF文件可以联系销售代表获取

yangfeng 发表于 2023-10-31 09:10
MTBF文件可以联系销售代表获取

请问你是在官网datasheet《stm32f417zg》(如下图)的哪一章节（1Introduction 2Description 3Pinouts and pin description 4Memory mapping 5Electrical characteristcs 6Package information 7Ordering information Appendix 8Revision history）找到的呢？

yangfeng 发表于 2023-10-31 09:10
MTBF文件可以联系销售代表获取

抱歉，回复错了。

原回复：多谢！

小小超 发表于 2023-10-31 09:08
芯片手册不是有吗？实验数据是实验室所得，不代表实际工作环境

请问你是在官网datasheet《stm32f417zg》(如下左图)的哪一章节（1Introduction 2Description 3Pinouts and pin description 4Memory mapping 5Electrical characteristcs 6Package information 7Ordering information Appendix 8Revision history）找到的呢？在右图所示的质量与可靠性部分给出的sheet也没有 [img=110,0]https://shequ.stmicroelectronics.cn/forum.php?mod=image&aid=535795&size=300x300&key=dfce189acb2ab5eb&nocache=yes&type=fixnone[/img][img=110,0]https://shequ.stmicroelectronics.cn/forum.php?mod=image&aid=535796&size=300x300&key=36cafa13eaf50f1a&nocache=yes&type=fixnone[/img]

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