某客户开发一款高精度工业测量仪器，打算使用 STM32H7+外置高精度 ADC 采样的分离方案来实现。客户选取了一款所属行业内比较通用的 ADC 采样芯片。在读取该 ADC芯片手册后，客户发现该款 ADC 采样芯片使用 MCU 标准 SPI 与之通信存在问题，手册里面也推荐使用 DSP/FPGA 的来实现，客户一下就犯难了。为了降低成本和开发周期，客户想使用 MCU 来替代 DSP/FPGA 与 ADC 采样芯片的高速通信。
* S" I7 g0 C* ~1 E) a2 j4 S