采用两路PWM，第一个延迟启动第二个，或改用第二个延迟启动第一个，这样就构成了A\B两个的“编码”，其共同的周期就是计数周期，超前或滞后的延迟构成“相差”。
我的g474每次上电瞬间都会亮一下ld4，估计是瞬间过流，不断累积的话，估计过不了多久就和你的一样了 之前也坏过几个，都是类似问题，用万用表测2151芯片都是过流，但更换芯片后也没有变化
到www.st.com搜索STM32CubeMx，点击你要下载的版本，比方WINDOWS版的。 正常来讲需要先做个邮箱注册，按部就班来即可。 当然，如果是网络防火墙方面的原因，可能得你自己想想办法。 实在不行，如果谁有现存的，直接拷贝后安装也可以。
[md]代码优化是个很大的话题，网上也很多相关文章可以阅读。 作为嵌入式应用，比较容易出问题的一个地方就是那些全局变量，尤其当某全局变量既可以 在主程序中被访问，又会在中断中被访问时，建议加上volatile关键词。 再就是代码不够规范，编译器按照它的理解将代码调整了，调整后的代码可能未必跟程序员的意思一致。
你现在基于中断事件来做采集，具体怎么采集的，是否还要其他外设参与？ 总之，采集完一次算一次有效采集，即你说一次外部中断采样。 如果整个采集处理都在中断程序里完成，此时再来中断事件来不及处理就会出现丢失。 那么你的中断处理代码的简洁性就至关重要了，中断程序处理时间要尽量压缩。 另外，具体操作上是否有可以优化的地方?
你这个现象要结合你的配置来看和判断。 先保证HSE电路稳定工作了，再就是你的MCO输出源选择正确。 这个地方如果使用CubeMx配置就 非常简单且直观。
对于STM32U5系列，SRAM4是LPDMA唯一可以访问的RAM区，所以在涉及低功耗并用到LPDMA时， SRAM4只能作为LPDMA可以访问的存储区。 这就不难理解在低功耗自主模式时，内存buffer会安排到SRAM4. 至于正常模式下且不使用LPDMA的话，其它SRAM1、2、3、5、6可以自行安排的。 另外，我看库例程里有关UART应用、ADC应用时，都默认使用的SRAM1. 我之前使用STM32U5系列自行配置于正常模式下也做了些测试，也未刻意要使用SRAM4。
NADV信号只有在需要用到地址锁存的时才有用。 在外部存储器的地址线和数据线存在复用时，NADV信号用于地址锁存控制。 换句话说，如果无外部地址锁存需要时，这个信号是不需要的。 在基于CubeMx配置时，如果没有地址锁存的需求时就不用勾选那个地址有效框。 如果你设计上需要使用NADV，FMC有多种工作模式，选择其它用到NADV信号的合适模式。 从手册上看，mode 1不适合于使用地址锁存的存储扩展。
!(data/attachment/forum/202407/25/161743pp3onnx3nnfn73n5.png?imageMogr2/auto-orient/strip%7CimageView2/2/w/300 "image.png") 这是我将SPI3配置为RXONLY SLAVE模式的测试结果，用SPI1做主并完成发送。
哦 不好意思~！的确没怎么看明白你描述的，你之前的描述是这样的： 【问题详情】[md]芯片型号为：STM32F407VET6。使用CubeMX配置并生成HAL库。 在工程中，配置了CAN1和CAN2。并且调用了函数HAL_CAN_AddTxMessage(&hcan2, &xCAN2.TxHead, xCAN2.TxdBuf, (uint32_t *)CAN_TX_MAILBOX1);该函数的第4个形参是邮箱号，值为2. 在HAL_CAN_AddTxMessage函数中，将邮箱号重映射为一个地址，然后对这个地址(0x00000002)进行数据写入。 系统硬件设计的自举模式为主FLASH，如下图所示。 每次调用HAL_CAN_AddTxMessage发送函数，都会向0x00000002U的地址中写入一个值，导致FLASH报错，具体错误如下图所示 发生FLASH故障后，会导致FLASH操作失败。 解决方法：操作FLASH时，禁用CAN功能；操作FLASH结束，开启CAN功能。 说实在的，如果没有你后来的 两次 补充 我的确很多疑惑和不解，来回讨论了自然才清晰些。后面会就你提及的bug做验证测试。
关于ST25 NFC产品开发工具，ST提供从开发板、硬件、参考设计、软件与天线设计匹配等工具与资源。可以看一下B站介绍视频。也可以在B站搜索ST25-NFC，浏览更多ST25视频内容。 第12集 ST25 NFC产品开发资源简介_哔哩哔哩_bilibili
低温下对很多电子元器件都会有一定的影响，所以需要综合判断。 首先 MCU的输出逻辑是否收到影响，最好是固定信号输出，或者直接翻转IO。 串口是通过以为寄存器输出的，由硬件执行。硬件仅改变数据的几位似乎不合逻辑。 其次测量方式是否收到影响，低温下对测量的器件也是一大考验。
f_mount(),f_open(),f_lseek(),f)close()全都没有问题，只有当调用f_write()，和f_read()会显示A hard error occurred in the low level disk I/O layer,但是插拔完一次f_write()，和f_read()就可以使用了
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