大家好, 我读取VREFINT_CAL校正值,然后校正ADC1后读取ADC值,按文档计算VDDA: 即:电源电压=芯片内部校正值/ADC1读出值(漂移校正后)*3.3V,(代码如下), 用芯片厂3.3V,计算,得到我的VDDA为3.57~3.59V之间,用泰克6位半万用表测量VDDA为3.50V左右,用其它万用表也是测到3.5V左右,比如胜利表,示波器等。 按照计算出的VDDA,重新计算VREFINT=1.251V。文档里面的最大值为1.25V,略超上限。 这意味着电源有2%左右的误差。如果我的电压是准确的,则意味着ST工厂校正时的3.3V电压偏差有2%。当然一般电源芯片误差1~3%很正常,不过芯片厂用来生产芯片的校正电压如果也偏差2%,就有点不好理解?是不是? 现在我不找不到原因,请有经验的大师指点一下,谢谢。(为了减少外部因素干扰,VREFSD+这些脚,都移除了负载,其它模拟功能模块都是关闭的)。 谢谢!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!! 串口输出: u32AdcVcali(offset)= 0x00000047, DataCal32(30)=0x0611, Vadc1Vintref_VccA= 0x0599 fVint by Vcc( 3.576 V) from adc1: 1.251 V 代码: DataCal32_30 = (__IO uint16_t )(0X1FFFF7BA); //3.3V DataCal32_110 = (__IO uint16_t )(0X1FFFF7BA); //3.3V HAL_ADCEx_Calibration_Start(&hadc1); u32AdcVcali = HAL_ADC_GetValue(&hadc1); DelayMs(1); HAL_ADC_Start(&hadc1); sum = 0; for (i=0;i<N;i++) { HAL_ADC_PollForConversion(&hadc1, 10); u32AdcV = HAL_ADC_GetValue(&hadc1); // u32AdcV = u32AdcV & 0xfff; sum += u32AdcV; } HAL_ADC_Stop(&hadc1); Vadc1Vintref_VccA = sum / N; fVcal = 3.3f; //3.3V fVx = fVcal*DataCal32_30/Vadc1Vintref_VccA; if ((fVx < 4) && (fVx > 2.5f)) { g_fVcc = fVx; } |
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ADC每次开始采样直流电压时,会出现尖峰波形?
有些系列还给出了给定温度下的校准数据,并存放在特定位置。
有些时候我们可以使用它来监视VDD的变化、或作为内部比较器的比较电压、或作为某些ADC
模块的参考电压。
对它进行测量时,注意保证足够的采样时间、芯片电源尽量稳定。
这里有篇文章针对相应话题做了些实战性介绍,可以参考。
基于STM32片内信号的ADC应用演示 (qq.com)