STM32F10x芯片本身没有集成EEPROM,替代方案是用片上Flash来模拟EEPROM。Flash与EEPROM的区别主要是:一、EEPROM可以按位擦写,而Flash只能按块(页)擦除;二、Flash的擦除寿命约1 万次,较EEPROM低一个量级。范例在保存修改的数据时,以写入新数据来替代对原数据的修改,并使用两个页面轮流写入,单页写满后进行数据迁移,再一次性擦除旧页面。这个策略可以有效降低Flash擦除次数。 不过,范例代码只能保存固定大小的数据(16bits),虽然容易改成不同的固定大小,但实际用起来还是很不方便。我改写了一下,新的特性包括: - 支持不同大小数据(字符数组、结构体等)的混合存储;
- 增加对数据的校验和(Checksum)检查。
2 S7 B4 j# P4 j( M
附件提供了源码。使用方法很简单,比如要保存一个字符数组 title 和一个 point 结构体: - #include "eeprom.h"
) k) t: L% [# E -
, u0 I1 _& A. h7 k - #define TITLE_SIZE 80
4 Q: l. A1 b7 w, W' [ - #define TITLE_KEY 1
7 n4 O7 @1 P' Z% T& ?: k( d - #define POINT_KEY 2
9 D5 {: X8 i, v+ X) v; d& ? - % ^# i# B5 k" x, W1 C ?2 t
- typedef struct {& t: k# d, R0 _# p( g
- float x ;/ f6 l, k, Y# }2 `! t+ N
- float y ;
3 i9 `" p/ i! k( s* j5 B. N: z - float z ;3 G" u' u6 J5 `* h0 ?
- } Point ;1 u e! S6 A# b' x# ]/ u4 y
-
% P3 `. d6 o+ H- ?2 l2 ~ - char title [ TITLE_SIZE ] = "eeprom test string." ;
" ]0 H f/ }# r | W( p$ J - Point point ;
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$ @, }& H5 `* L1 L; Y执行必要的初始化操作后,就可以进行写入和读取: - uint16_t result = 0 ;
8 u+ C0 e) |( _) l0 _0 ` - / j) r* u/ G# L0 O
- 4 u8 ?4 ?) g( c: }* W
- FLASH_Unlock ( ) ;) g/ S0 r- B' h4 u5 g! ]0 H* L5 K
-
* o7 e! }$ p$ F* m
' Y. c: ?3 \1 }2 G+ x- EE_Init ( ) ;
' D/ ^8 a: |1 X -
0 C W; ?$ a) C) J - 0 G! X0 P! r/ M% W4 f' c
- result = memcpy_to_eeprom_with_checksum ( TITLE_KEY , title , TITLE_SIZE ) ;7 J) F4 a5 u2 \* _' x
- result = memcpy_to_eeprom_with_checksum ( POINT_KEY , & point , sizeof ( point )) ;) P0 u; B" L+ C2 t
-
9 d; ]7 c( Y7 S, z! r4 P$ S
" K/ \* Q( |$ A2 V6 r/ T- result = memcpy_from_eeprom_with_checksum ( title , TITLE_KEY , TITLE_SIZE ) ; }! W0 a0 z) ~8 j
- result = memcpy_from_eeprom_with_checksum ( & point , POINT_KEY , sizeof ( point )) ;
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7 m/ m: i Z4 r4 d3 F% j# e+ D( V1 ^# s/ ^8 z
实现混合存储的办法,是给每个变量附加8字节的控制信息。因此,在存储小数据时会有较大的空间损耗,而在存储较大的数据结构时空间利用率更高(相对于范例)。代码是针对STM32F103VE的实现。不同芯片需要对应修改头文件中 EEPROM_START_ADDRESS 的定义: ) z$ }1 c) A$ Q/ l! {/ L
- #define EEPROM_START_ADDRESS ((uint32_t)0x0807F000)
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" P/ ~# y. ^4 ~& F0 [4 f |