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ATE测试STM32如何通过pattern控制内核,或者说如何才能实现MCU中AD模块,存储器模块等模块功能性测试。MCU不同与逻辑芯片、AD芯片或者存储器芯片,举例来说:AD芯片上电以后跑pattern,打信号就可以工作;存储器芯片可以直接通过pattern访问地址,读写数据。MCU不同在于它有CPU,各个模块都是由CPU控制的,具体你应该比我熟悉,所以我就想问问你,如果测一个MCU,比如存储模块,比如AD模块,应该怎么去测
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