ATE测试STM32如何通过pattern控制内核，或者说如何才能实现MCU中AD模块，存储器模块等模块功能性测试。MCU不同与逻辑芯片、AD芯片或者存储器芯片，举例来说：AD芯片上电以后跑pattern，打信号就可以工作；存储器芯片可以直接通过pattern访问地址，读写数据。MCU不同在于它有CPU，各个模块都是由CPU控制的，具体你应该比我熟悉，所以我就想问问你，如果测一个MCU，比如存储模块，比如AD模块，应该怎么去测