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前言
# l& X- \& m0 m* S6 a6 Z" H% u本编程手册介绍了 STM32F405xx、STM32F407xx、STM32F415xx 和 STM32F417xx 微控制器 Flash 的编程方法。为方便起见，本文档将上述产品统称为 STM32F40x 和 STM32F41x（除非另行声明）。
STM32F40x 和 STM32F41x 嵌入式 Flash 可采用在线编程或在应用中编程两种方式。
4 x- p) s- u' s1 B$ b0 P在线编程 (ICP) 方式适用于更新 Flash 的所有内容，更新时使用 JTAG、SWD 协议或自举程序将用户应用程序加载到微控制器。ICP 可实现快速而高效的设计迭代，并且避免了不必要的器件封装处理或插接。
: u; U( e/ i% {; c% F- L0 {与 ICP 方法相比，在应用中编程 (IAP) 可通过微控制器支持的任何通信接口（I/O、USB、CAN、UART、I2C 和 SPI 等）将编程数据下载到存储器。使用 IAP 方式时，可以在应用程序运行期间对 Flash 重新编程。但是，部分应用程序必须事先通过 ICP 方式编程到 Flash。
7 c$ z' f! U. P; |Flash 接口根据 AHB 协议实施指令访问和数据访问。它将实施可加快 CPU 代码执行速度的预取缓冲器，以及执行 Flash 操作（编程 / 擦除）所必需的逻辑。编程 / 擦除操作可在整个产品电压范围内执行。读写保护和选项字节的设置也通过 FLASH 接口来操作。
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词汇表
本节简要介绍本文档中所用首字母缩略词和缩写词的定义：
- \' E8 y( s  M+ a  \/ S● CPU 内核集成了两个调试端口：
— JTAG 调试端口 (JTAG-DP) 提供基于联合测试工作组 (JTAG) 协议的 5 引脚标准接口。
& b% I) m8 S  x/ T— SWD 调试端口 (SWD-DP) 提供基于串行线调试 (SWD) 协议的 2 引脚（时钟和数据）接口。
2 Y" S8 E5 u% V4 p# u8 A: z6 A有关 JTAG 和 SWD 协议的信息，请参见《Cortex-M4F 技术参考手册》
. i/ h0 b& s9 [  P● 字：32 位数据/指令。
● 半字：16 位数据/指令。
+ v4 ?, Z) Z! @7 n  a  D- r+ ~# Y* [● 字节：8 位数据。
● 双字：64 位数据。
● IAP（在应用中编程）：IAP 是指可以在用户程序运行期间对微控制器的 Flash 进行重新编程。
- B3 c( s+ @  d7 l3 k4 t● ICP（在线编程）：ICP 是指可以在器件安装于用户应用电路板上时使用 JTAG 协议、SWD 协议或自举程序对微控制器的 Flash 进行编程。
● I-Code：此总线用于将 CPU 内核的指令总线连接到 Flash 指令接口。通过此总线可执行预取操作。
' }9 l" ], @+ ?8 q● D-Code：此总线用于将 CPU 的 D-Code 总线（文字池数据加载和调试访问）连接到 Flash数据接口。
2 C% y0 C, X' o! \; p) M9 H- k● 选项字节：存储于 Flash 中的产品配置位。
● OBL：选项字节加载器。
● AHB：高级高性能总线。
0 ^2 v3 Y# K* g5 R6 u% P4 \1 d● CPU：指 Cortex-M4F 内核。
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1 Flash 接口
1.1 简介
Flash 接口可管理 CPU 对 1 MB（64 Kb × 128 位）Flash 进行的 AHB I-Code 和 D-Code 访问。该接口可针对 Flash 执行擦除和编程操作，并实施读写保护机制。
/ r8 B) O, P( O3 G. S0 F" d9 R% fFlash 接口通过指令预取和缓存机制加速代码执行。
3 b( ~0 S. ]3 B' m9 n, i1.2 主要特性
● Flash 读操作
● Flash 编程/擦除操作
# ^* N8 F+ m' J● 读/写保护
● I-Code 上的预取操作
● I-Code 上的 64 个缓存行（128 位）
● D-Code 上的 8 个缓存行（128 位）图 1 所示为系统架构内的 Flash 接口连接。
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图 1. 系统架构内的 Flash 接口连接

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