总的来讲，单片机调试是单片机开发工作必不可少的环节。不管你愿不愿意，调试过程中总会有各种不期而遇的问题出现在我们面前来磨砺我们。这里分享几点STM32调试过程中与开发工具及IDE有关的几个常见问题，以供参考。

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1、做低功耗调试时连接不上目标板


默认情况下，当MCU进入低功耗模式后，内核时钟停止工作，调试连接将中断。不过，通过设置DBGMCU寄存器控制位，即使进入低功耗模式，还是可以进行一定程度的调试。
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在保证DGBMCU控制位正确配置前提下，还需注意SWD调试脚没有被配置为【analog state】模拟输入状态。我们在具体应用时为了降低功耗可能会将芯片的包括SWD调试脚在内的GPIO配置为模拟功能，这样会到导致调试器连接不上情况。此时在连接前先做下复位，有时可能多做几次复位才连接得上。
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% R  y1 w, U, A5 I2 X/ X) l* N当然，上面是指低功耗模式下连接不上目标板的情况。如果是一般性的连接不上，原因就更多了，比方硬件器件、连接线路、驱动程序、用户代码本身等，这些要结合具体情况来分析。关于低功耗模式的调试支持，请参考各个系列参考手册的相关描述。


1 M0 i$ }) f% p8 e/ X# F; ^2 r  D2、打印输出失败
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通常我们可以借助于串口助手做打印输出。如果使用STM32虚拟串口，注意PC端的虚拟串口驱动程序安装正常。相应软件包编号是STSW-STM32102。
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$ G, W. u2 Y. K7 s* e# F再就是注意配置UART相关参数配置时，字长是包含了校验位的。比方8位字长，它是由 7个数据位，1个校验位组成。还有，VCP不支持字长在8位以下的传输。
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另外，对于那些基于ARM CORTEX M3/M4/M7内核的STM32芯片，我们可以使用SWO方式做打印输出。
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$ G( Q  L4 `; e: A0 p" I0 U" e这里要注意的是：
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0 k8 J; r  y2 e) J3 y* ba、不是所有MCU系列都支持SWO打印输出；目前仅基于ARM Cortex M3/M4/M7内核的芯片支持；

- [$ M0 x% P# H6 Y; U- ]b、目前只支持SWD模式，不支持JTAG模式；
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9 X- N/ z/ e/ J$ e, x4 T4 u. B) Ic、在调试环境里需做适当配置和代码补充，涉及到DBG_MCU_CR寄存器的控制位。
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4 o( c# L  }% a! B) @3、低功耗应用中功耗数据异常
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0 J4 e& R  C9 \  e  j1 T这个原因很多，比方，测量方面的原因，不属于MCU的功耗也算进来了；有些外设及管脚没处理好，导致漏电流还在产生； 或者低功耗模式选择不对，或者进了低功耗模式马上又醒了而误测误判等等。
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这里再提醒1点：


设置进入低功耗模式后，确认是否还在调试模式。即检查DBGMCU寄存器中与低功耗调试配置有关的寄存器控制位，确保关闭了低功耗调试状态。做低功耗数据测试时，最好不要还连接着调试器，给我们带来困扰。前不久就有人反映，用别的调试器连接着STM32目标板测得功耗与用STLINK调试器连接着测得功耗大不 一样，改用STLINK就合理了。
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  ]9 V8 |! h3 S, y% H4、在Normal/System Reset模式下SWD连接不上目标板
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- i7 a) I  l( U9 W& K* J此时我们可以尝试换个连接模式，比如Connect Under Reset，或者换个复位模式，比如Hardware Reset 。
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如果说借助STLINK，即使使用Connect Under Reset或Hardware Reset方式还连接不上呢？我们可以查看下STLINK的NRST脚与目标板上的MCU的NRST脚是否相连了。如果是nucleo板的话，还需确认下跳线SB12是否为连接状态。
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5、MCO脚无时钟信号输出

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我们在STM32调试过程中，有时需要引出主时钟进行输出监视，即将主时钟通过MCO脚引出观察。

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要想正确输出，MCO做正确配置是必须的了。当然用CubeMx配置的话一般不会有啥大问题 。不过有个地方要注意，那个GPIO的输出速率参数要合适配置，不同STM32系列的GPIO最大可输出速率在数据手册上都明确出来了。当MCO输出时钟频率较高以至于超过GPIO的输出能力时，这时需要考虑先做分频后再来做观察。
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3 c* f* v+ D7 f4 M' T' O一般来讲，当MCO的输出频率在1Mhz以上时，如果观察到的波形带有很严重的噪声或者扁平的小幅度信号，甚至看不到输出的时候，我们可以考虑下是否那个OSPEED参数设置得太小了；如果说看到周期较长、幅度较大带有明显上下峰值过冲情形的波形，我们可以考虑下是否那个OSPEED参数设置得太大了。
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6、没法对某些变量进行计算和监控或无法设置断点

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1 h3 x$ {$ c2 T  s5 ^这个原因较多，具体到调试环境，很可能跟你编译环境的优化等级配置有关。
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! J' Y$ \& F7 {% i我们在MCU调试过程中，往往会用到编译器的优化功能来提升芯片的性能和精简代码空间。不过，经过代码优化，往往可能给我们调试带来些影响，主要体现在下面几个方面:
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a、 设置断点方面出现障碍，有些代码行没法做断点的设置；
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/ P- ^5 |0 g8 y% ]( k6 Gb、 无法对某些变量进行观察；
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c、 单步调试时出现代码运行“不连续”的情形，即执行到的地方和我看到的地方不一致；
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因此，为了实现有效调试，我们在通过编译器做优化时要选择合适的优化等级。基本原则是不影响调试体验的前提下保障编译效率。一般来讲，在调试时建议将优化等级设置在较低水平。比方KEIL MDK 推荐调试时将优化等级设置在-O1, IAR 推荐调试时将优化等级设置在-None,GCC推荐调试是将优化等级设置在-Og.其实，编译器的优化等级设置越高，对代码的规范性要求以及我们对编译器的了解程度也越高。经常有人代码优化前程序运行得好好的，代码优化等级调高好程序功能变得面目全非了。

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学习111111111111111

非常感谢，学习了