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关于STM32G071RB的ADC采集误差问题

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STMCU小助手 发布时间:2022-12-15 13:31
1 G0系列控制器在开启ADC采集后,因为开启ADC采集功能时,内部ADC处理电路会向管脚泄露一些电荷,在管脚上面形成毛刺,即便将ADC的采集管脚接地,测量ADC采集使用的管脚也会产生较大的尖刺,如下图
& k+ F8 \% o6 f# q7 f( [5 \
, v, a1 Q7 _# s6 f
9d35305825674e208dae29a300ff4bbe.jpg
: _7 Y- @) N  _* Q9 Q8 h! O# J- s% Y. O1 Y( r4 U* h9 P7 Z
2 由于尖刺的影响,会对采集的数值造成偏差,影响了采集精度
  P9 A2 L) F4 [1 b& }- H0 [6 Y7 Z
  X4 P1 G" z. P- P& w
3 通过勘误手册得知,这个问题属于G0控制器本身的问题! D$ q! g" N6 `0 d9 ^
! I  ?+ e9 ]8 k! R& x
e20c4080a8db4a729a78ae6f1fa12d0f.png
2 C; h3 }3 d- H8 H3 P/ G+ y) j

+ T: E0 d2 _! G7 ~3 m1 n5 p4 勘误手册提出的解决办法
0 Z" Y) l( ^0 F7 O; x
, x# D. Z9 Q# z4 A6 @/ w" V
5341ec14d44f42eea595932869e6811c.png
. V2 [& \/ p7 h5 g: Y5 F+ i
" x' }% k8 {% h/ c2 d1 _
5 勘误手册提出的解决办法-翻译
1 ~8 E+ j( e' ], S% L0 O# [8 X' G# i! C' |  ~2 H$ g% `
c23bd36f5510427eb78e54fa49cab9d4.png
6 J5 e2 L  d6 n) n3 V: M$ s
% b  q  V0 j& s: A
6 程序解决办法9 d$ g  b" H; W3 Y/ x, b
可以使用HAL库的校准函数,修正尖峰带来的ADC采集值偏差
6 F1 ]& [( R. V6 r. b" X% s4 d7 \
83a06d781fdd4d8f920a397c085668cc.png 2 {4 S# o- B: k' p  u8 e1 O: g! Q/ J
  k, @  d. _& H3 j
7 通过校准函数修正后,测量得到的数值是:7 j7 O- u- b) J3 X
3 J9 W1 j: d. x: I; P* x! K( x
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3 [4 s. j' q% ]; b  L: c
1 g  u7 D+ {- \/ L
8 测试环境
. E( {( c% d8 j( i
5 N& P# @$ ^; Z7 Q- i3 W) W8 a/ ^ bdbe16f9ff8840b09129af3772a64309.png : M+ P6 V7 h# B$ k6 c' X) f

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3 N" Z) l; H! w3 V
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