STMCU小助手
发布时间:2022-12-15 13:31
1 G0系列控制器在开启ADC采集后,因为开启ADC采集功能时,内部ADC处理电路会向管脚泄露一些电荷,在管脚上面形成毛刺,即便将ADC的采集管脚接地,测量ADC采集使用的管脚也会产生较大的尖刺,如下图
2 由于尖刺的影响,会对采集的数值造成偏差,影响了采集精度 3 通过勘误手册得知,这个问题属于G0控制器本身的问题
4 勘误手册提出的解决办法
5 勘误手册提出的解决办法-翻译
6 程序解决办法 可以使用HAL库的校准函数,修正尖峰带来的ADC采集值偏差
7 通过校准函数修正后,测量得到的数值是:
8 测试环境
———————————————— 版权声明:xyang18 |
经验分享 | STM32G0 I2C bootloader Go 命令后调试连接失败:DBG_SWEN 位复位修复
经验分享 | STM32G0B1 待机模式意外唤醒深度解析:RTC 结构体未初始化的隐形坑
经验分享 | STM32G0B1 待机模式意外唤醒深度解析:RTC 结构体未初始化的隐形坑
如何在STM32和Arduino上实现卷积神经网络
STM32与51单片机差异一文速览
STM32芯片命名规则
STM32 引脚到底有多少?为什么一个引脚能当好几个用?
【STM32入门学习路径指南】(四步走)
基于STM32G070RBT6驱动RC522
嵌入式-单片机-STM32 EXTI中断
微信公众号
手机版