可以回复了，前两天打了好多字，提示正在审核就没动静了

首先还是感谢提供帮助

确实抱歉，按照上述步骤确实没有问题。

若想复现之前的问题，仅更改一行代码即可。。。

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将第一步中的“开启比较中断”，放到第二步中的“更改ARR、CCR之后”即可复现问题

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确实是用作了特殊用途，在信号的解调以及解码方面，信号以改进的数字米勒编码进行传输，拥有起始位数据位校验位和结束位。根据每个bit传输周期的前半周期被调制还是后半周期被调制代表数字信号0或1；起始位会触发外部中断，随后通过定时器延时一个bit传输周期，然后每半个传输周期采样一次，采样点位于每半个周期的1/4处。这样就可以完成采样。

硬件电路已进行了相应处理，包括信号检波、包络信号放大、滤波等处理

程序实现方案是通过外部中断检测上升沿来判定起始位的到来，随后关闭定时器预装载功能，将定时器周期设为一个bit传输周期，比较值同样设为一个bit传输周期，CNT清零并开启定时器，此时开启预装载功能，将周期设为半个bit传输周期（半个周期采样一次），比较值设为1/8周期（半bit周期的1/4处采样），并打开中断。

定时器执行流程：定时器将在完成一个bit周期的计数后触发比较中断，此时刚刚好处在起始位之后，第一个数据位之前。当发生中断后，也意味着定时器周期变为了半个bit周期，比较值变为了半个bit周期的1/4，随后将在半个bit周期内的1/4出再次触发比较中断，完成第一个数据bit的前半段采样，随后同理，完成第一个数据bit的前后段采样，完成第二个数据bit的前半段采样，。。。。。。。

此方案已在其他MCU中验证通过，STM32的问题在于，当第一次比较中断发生后，其周期也随之改变，但不会按预装载值改变，复现此问题仅将第一步中的开启比较中断放在第二步中更改ARR、CCR之后即可。

感谢回复！

可以回复了，前两天打了好多字，提示正在审核就没动静了

首先还是感谢提供帮助

确实抱歉，按照上述步骤确实没有问题。

若想复现之前的问题，仅更改一行代码即可。。。

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将第一步中的“开启比较中断”，放到第二步中的“更改ARR、CCR之后”即可复现问题

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说明一下，这里看看就好，不在讨论范围之内

确实是用作了特殊用途，在信号的解调以及解码方面，信号以改进的数字米勒编码进行传输，拥有起始位数据位校验位和结束位。根据每个bit传输周期的前半周期被调制还是后半周期被调制代表数字信号0或1；起始位会触发外部中断，随后通过定时器延时一个bit传输周期，然后每半个传输周期采样一次，采样点位于每半个周期的1/4处。这样就可以完成采样。

硬件电路已进行了相应处理，包括信号检波、包络信号放大、滤波等处理

程序实现方案是通过外部中断检测上升沿来判定起始位的到来，随后关闭定时器预装载功能，将定时器周期设为一个bit传输周期，比较值同样设为一个bit传输周期，CNT清零并开启定时器，此时开启预装载功能，将周期设为半个bit传输周期（半个周期采样一次），比较值设为1/8周期（半bit周期的1/4处采样），并打开中断。

定时器执行流程：定时器将在完成一个bit周期的计数后触发比较中断，此时刚刚好处在起始位之后，第一个数据位之前。当发生中断后，也意味着定时器周期变为了半个bit周期，比较值变为了半个bit周期的1/4，随后将在半个bit周期内的1/4出再次触发比较中断，完成第一个数据bit的前半段采样，随后同理，完成第一个数据bit的前后段采样，完成第二个数据bit的前半段采样，。。。。。。。

此方案已在其他MCU中验证通过，STM32的问题在于，当第一次比较中断发生后，其周期也随之改变，但不会按预装载值改变，复现此问题仅将第一步中的开启比较中断放在第二步中更改ARR、CCR之后即可。

确实是用作了特殊用途，在信号的解调以及解码方面，信号以改进的数字米勒编码进行传输，拥有起始位数据位校验位和结束位。根据每个bit传输周期的前半周期被调制还是后半周期被调制代表数字信号0或1；起始位会触发外部中断，随后通过定时器延时一个bit传输周期，然后每半个传输周期采样一次，采样点位于每半个周期的1/4处。这样就可以完成采样。

硬件电路已进行了相应处理，包括信号检波、包络信号放大、滤波等处理

程序实现方案是通过外部中断检测上升沿来判定起始位的到来，随后关闭定时器预装载功能，将定时器周期设为一个bit传输周期，比较值同样设为一个bit传输周期，CNT清零并开启定时器，此时开启预装载功能，将周期设为半个bit传输周期（半个周期采样一次），比较值设为1/8周期（半bit周期的1/4处采样），并打开中断。

定时器执行流程：定时器将在完成一个bit周期的计数后触发比较中断，此时刚刚好处在起始位之后，第一个数据位之前。当发生中断后，也意味着定时器周期变为了半个bit周期，比较值变为了半个bit周期的1/4，随后将在半个bit周期内的1/4出再次触发比较中断，完成第一个数据bit的前半段采样，随后同理，完成第一个数据bit的前后段采样，完成第二个数据bit的前半段采样，。。。。。。。

此方案已在其他MCU中验证通过，STM32的问题在于，当第一次比较中断发生后，其周期也随之改变，但不会按预装载值改变，复现此问题仅将第一步中的开启比较中断放在第二步中更改ARR、CCR之后即可。

定时器执行流程：定时器将在完成一个bit周期的计数后触发比较中断，此时刚刚好处在起始位之后，第一个数据位之前。当发生中断后，也意味着定时器周期变为了半个bit周期，比较值变为了半个bit周期的1/4，随后将在半个bit周期内的1/4出再次触发比较中断，完成第一个数据bit的前半段采样，随后同理，完成第一个数据bit的前后段采样，完成第二个数据bit的前半段采样。。。。

此方案已在其他MCU中验证通过，STM32的问题在于，当第一次比较中断发生后，其周期也随之改变，但不会按预装载值改变，复现此问题仅将第一步中的开启比较中断放在第二步中更改ARR、CCR之后即可。

定时器执行流程：定时器将在完成一个bit周期的计数后触发比较中断，此时刚刚好处在起始位之后，第一个数据位之前。当发生中断后，也意味着定时器周期变为了半个bit周期，比较值变为了半个bit周期的1/4，随后将在半个bit周期内的1/4出再次触发比较中断，完成第一个数据bit的前半段采样，随后同理，完成第一个数据bit的前后段采样，完成第二个数据bit的前半段采样，。。。。。。。

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此方案已在其他MCU中验证通过，STM32的问题在于，当第一次比较中断发生后，其周期也随之改变，但不会按预装载值改变，复现此问题仅将第一步中的开启比较中断放在第二步中更改ARR、CCR之后即可。

此方案已在其他MCU中验证通过，STM32的问题在于，当第一次比较中断发生后，其周期也随之改变，但不会按预装载值改变，复现此问题仅将第一步中的开启比较中断放在第二步中更改ARR、CCR之后即可。

此方案已在其他MCU中验证通过，STM32的问题在于，当第一次比较中断发生后，其周期也随之改变，但不会按预装载值改变，复现此问题仅将第一步中的开启比较中断放在第二步中更改ARR、CCR之后即可。

邓达达 发表于 2023-5-15 10:29
[md]定时器执行流程：定时器将在完成一个bit周期的计数后触发比较中断，此时刚刚好处在起始位之后，第一个 ...

此方案已在其他MCU中验证通过，STM32的问题在于，当第一次比较中断发生后，其周期也随之改变，但不会按预装载值改变。

复现此问题仅将第一步中的开启比较中断放在第二步中更改ARR、CCR之后即可

此方案已在其他MCU中验证通过！

STM32的问题在于，当第一次比较中断发生后，其周期也随之改变，但不会按预装载值改变，复现此问题仅将第一步中的开启比较中断放在第二步中更改ARR、CCR之后即可。

此方案已在其他MCU中验证通过！