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将STM32定时器计数周期设为0xFF（累加256次溢出），比较值设为0x7F，在某一时刻将新的计数周期0x7F与比较值0x3F加载到影子寄存器（即，在当前计数周期结束后，新的周期值将自动加载，也就是不立即更新）。当正在进行的一个周期结束后，经示波器测量确实可以看到其下一个周期发生了变化，但其周期明显与预设值对应不上！再次经过一个周期，定时器才可安照预设值稳定输出。 目前已在H7/L4上发现此问题，定时器分频系数为1。此外，使用定时器输出PWM时也有相同情况出现，即改变PWM频率后的前两个周期输出不对。也有网友提及但未解决。 可简单通过cubeMX配置定时器，随后在比较中断内翻转IO，经示波器测量复现此问题。 |
MotorControl Workbench_6.3.2配置单片机时找不到STM32H743VIT6E
STM32H743IIT6同时配置ADC3通道中的温度及内部参考电压，扫描单次转换，怎样读出这二个数据？
STM32CubeIDE报错
TouchGFX Designer下载工程到STM32H7S7-DK报错
Demo 例程
SDIO读取TF卡，１bit模式正常，4bit模式无法读取
请问大佬们，L433进入stop2模式还有874uA的电流，有什么排查的办法吗？
关于STM32H743VIT6 在用QSPI的接口，想换个CS的管脚，但芯片内置是绑死的，这个要怎么处理，用个其他的IO口做片选
cudeide执行run是烧录还是只是执行呢
定时器使用DMA突发传输功能时，传入指针从常量数组改为变量数组后，传输功能异常。测试官方用例一样，是何原因？
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感谢提供帮助
昨天我复现了一下问题，按照步骤操作确实不存在任何问题
这是我的疏忽，实在抱歉，，，
仅将第一步中“开启比较中断”，放到第二步中设定ARR、CCR之后，即可复现这个问题，仅需将源码改动一行即可！
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确实利用在了特殊用途，简单看看就好，不作为讨论内容
[md]感谢提供帮助
昨天我复现了一下问题，按照步骤操作确实不存在任何问题
这是我的疏忽，实在抱歉，，，
*仅将第一步中“开启比较中断”，放到第二步中设定ARR、CCR之后，即可复现这个问题，仅需将源码改动一行即可！***
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确实利用在了特殊用途，简单看看就好，不作为讨论内容
[md]首先感谢回答。您的建议在之前已有考虑，问题并未解决
首先是ARR与CCR的预装载使能/失能问题，可使用如下2个宏函数接口实现
使能预装载
失能预装载
当然亦可通过CUBEMX内的配置项自动生成初始化代码
关于函数调用时间，在此均采用了ST提供的HAL库宏函数接口更新CCR/ARR的值，在确保程序可读性及可移植性的情况下，最大限度的节约寄存器操作时间
此问题的简单复现方案如下
第一步：
1 - 关闭预装载（ARR/CCR）
2 - 设定ARR=CCR=0xFF
3 - 开启比较中断（连接到示波器可查看周期）
第二步：
1 - 设置触发（延迟一段时间拉高某个IO引脚以触发示波器采集，注意使用位带操作节省操作时间）
2 - 立即清空CNT
3 - 使能预装载
4 - 设定ARR=0X7F，CCR=0X3F
5 - 再次拉低IO，IO高电平持续时间即为寄存器操作总耗时
简要解释：清空CNT后，定时器仍按之前参数运行，在当前计数周期结束后将同步更新ARR/CCR的值，随后根据新的参数运行
现象：本周期结束后其计数周期确实会相应改变，但改变之后的前两个周期明显与设定值不符，经过2个周期后才可稳定输出
可查看示波器输出，寄存器操作总耗时远远小于定时器先前与当前的计数周期。所以并不是操作时间过长导致。
还请大神不吝赐教，感谢！
开启预装后，修改ARR及CCR的值，生效时间点最长可能延后1个计数周期。
不过这里要注意下，你修改ARR及CCR的值最好在一个计数周期内完成，不要一个在某更新事件之前
完成赋值，另一个则在该更新事件之后完成赋值。
为了保证输出波形完整性，建议你开启ARR及CCR的预装功能，在CubeMx配置时选择下即可。
开启预装后，修改ARR及CCR的值，生效时间点最长可能延后1个计数周期。
不过这里要注意下，你修改ARR及CCR的值最好在一个计数周期内完成，不要一个在某更新事件之前完成赋值，另一个则在该更新事件之后完成赋值。
第2步,先对 计数器清零并开启预装功能，然后修改ARR=CCR=7F,3F，这两个数据还不能
立即生效。
这两个数据要等计数器刚才清零开始后一直计到之前的FF后 发生更新事件才能令新值7F,3F生效。
后面的输出才是按照ARR=7FF,CCR=3F运行。
这里的核心就是预装问题，你不妨好好琢磨下。
你的回答以及分析就是我本来想要的结果，也是理论上的结果
如你所述：“后面的输出才是按照ARR=7FF,CCR=3F运行”
实际结果是：并未安按照ARR=7FF,CCR=3F运行。。。
你可以用示波器简单进行复现，根本不会按照你的分析（亦即理论效果）去执行
好，我找个L4开发板测试后 再回复你结果。
参照你的操作手法，从你修改数据时刻算起，必须 延时一整个原计数周期，即相当于后来2个计数周期后才启用
新的配置参数。
具体修改时你是这样操作的：
先 对计数器做了清零，然后 开启预装载功能，再 修改ARR和CCR的值。这时计数器所以的ARR和CCR依然是0xff和0x7f，
而且从0开始计数并执行相应PWM输出。也就是说从修改操作时刻开始，一直要等计数0xff+1个时钟后新数据才能生效，
这个延时刚好对应2个新周期。这个2倍关系是个巧合，跟你当前设置的数据有关。
如果你不希望 一定 延时这么久，你在更新ARR和CCR时不必要清零，不知你为何这里要清零。其实你保证在上个周期
修改完即可，这样的话，最长延时虽然还是一个原周期，但不是必须或总是，具体与你修改数据的时间点有关。
还有，你为什么不一开始就开启预装功能，非要等到修改数据时开启预装呢？你这样操作不就是表示你希望开启预装，
保持波形完整性吗？
置位UG位确实会直接产生更新，但这样做的话，那么预装载寄存器的作用将毫无意义，仍然感谢您的回答，谢谢！
昨天我找STM32L4开发板做了测试，用TIM1-CHI1.
按照你目前给出的操作步骤，输出是合理的、正确的。即从修改时刻算起到数据生效
必须 注意是必须要等一个完整的旧周期，这里也刚好等于2个后来的新周期宽度。
如果说，抹掉第二步中的清零环节，具体延时取决于你修改参数的时间点，但不会宽过1个旧周期，
生效延时最短极限为0。
还有，你既然关心波形完整性，为何 不一开始就开启预装呢？这样更为简单。或许你有特别的应用
考量吧。
前两天回复了两次，一直提示正在审核，在这里重新回复试一下
[md]可以回复了，前两天打了好多字，提示正在审核就没动静了
首先还是感谢提供帮助
确实抱歉，按照上述步骤确实没有问题。
若想复现之前的问题，仅更改一行代码即可。。。
将第一步中的“开启比较中断”，放到第二步中的“更改ARR、CCR之后”即可复现问题
确实是用作了特殊用途，在信号的解调以及解码方面，信号以改进的数字米勒编码进行传输，拥有起始位数据位校验位和结束位。根据每个bit传输周期的前半周期被调制还是后半周期被调制代表数字信号0或1；起始位会触发外部中断，随后通过定时器延时一个bit传输周期，然后每半个传输周期采样一次，采样点位于每半个周期的1/4处。这样就可以完成采样。
硬件电路已进行了相应处理，包括信号检波、包络信号放大、滤波等处理
程序实现方案是通过外部中断检测上升沿来判定起始位的到来，随后关闭定时器预装载功能，将定时器周期设为一个bit传输周期，比较值同样设为一个bit传输周期，CNT清零并开启定时器，此时开启预装载功能，将周期设为半个bit传输周期（半个周期采样一次），比较值设为1/8周期（半bit周期的1/4处采样），并打开中断。
定时器执行流程：定时器将在完成一个bit周期的计数后触发比较中断，此时刚刚好处在起始位之后，第一个数据位之前。当发生中断后，也意味着定时器周期变为了半个bit周期，比较值变为了半个bit周期的1/4，随后将在半个bit周期内的1/4出再次触发比较中断，完成第一个数据bit的前半段采样，随后同理，完成第一个数据bit的前后段采样，完成第二个数据bit的前半段采样，。。。。。。。
此方案已在其他MCU中验证通过，STM32的问题在于，当第一次比较中断发生后，其周期也随之改变，但不会按预装载值改变，复现此问题仅将第一步中的开启比较中断放在第二步中更改ARR、CCR之后即可。
感谢回复！