
问题描述:STM32F427ZGT6 ADC 采样,采用的ADC1 共3通道,DMA数据读出。采样数据进行中值滤波,深度20。外围电路设计:VSSA与AGND相连,VDDA通过一个200mH电感相连,GND与AGND通过0Ω电阻连接。采样过程中,在0-2000AD值时,AD十分稳定,电位器动一点,AD动一点,当AD值大于2000后,AD开始乱跳,波动在20个AD左右;当AD采样大于2048后,同样十分稳定,线性度很好。当AD值从大于2048的值,比如旋转电位器从2060开始往小采样时,AD值线性减小,减到2048时,不再跳动(电位器依然旋转),停滞一点(预计有10个AD)后又开始乱跳(在区间2000-2048之间),然后继续旋转电位器,当AD小于2000后,又恢复稳定与线性。 之前在AMOBBS论坛上看到类似帖子《STM32F407的ADC采样误差太大,如何解决?》。欢迎高手围观解决。 |
NUCLEO-F401RE板卡,连接USB,在KEIL下可以找到ST-LINK仿真器,也可以下载代码。在电脑上看不到NODE_F401RE的磁盘,有知道是什么原因?
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STM32407 使用串口闲时中断+DMA方式接收最大接收字节是多少
USB_CDC_HOST 标准库里边USBH_DeAllocate_AllChannel()函数的疑问?
STM32部署机器学习算法硬件至少要使用哪个系列的芯片?
STM32L433VCT6 进入STOP模式2之后,功耗依然和正常运行模式没有差别,请教大神
重新配置SCB->VTOR = 0x08010000后,再次复位,程序异常,发现不进tick中断,IIC读数卡死在准备查询循环中。
uboot初始化IIC1,跳转到应用程序中后,先读一字节AT24C04的数据,然后初始化IIC1(未复位),再读一字节AT24C04时,有概率一直检测到IIC处于busy状态。
STM32F407的flash读写问题
keil调试阶段无法进行仿真,能进到仿真界面,但是无法执行程序,这个怎么解决?
是不是电位器的问题,可以用校准信号源输出信号,用AD测量看一下
另外逐次比较型ADC的原理和关键参数可以参考官方的各种AN,包括使用方法。
简单讲:ADC的精度和参考电压,采样时间,转换模式,校准等有很大关系。