问题描述:STM32F427ZGT6 ADC 采样,采用的ADC1 共3通道,DMA数据读出。采样数据进行中值滤波,深度20。外围电路设计:VSSA与AGND相连,VDDA通过一个200mH电感相连,GND与AGND通过0Ω电阻连接。采样过程中,在0-2000AD值时,AD十分稳定,电位器动一点,AD动一点,当AD值大于2000后,AD开始乱跳,波动在20个AD左右;当AD采样大于2048后,同样十分稳定,线性度很好。当AD值从大于2048的值,比如旋转电位器从2060开始往小采样时,AD值线性减小,减到2048时,不再跳动(电位器依然旋转),停滞一点(预计有10个AD)后又开始乱跳(在区间2000-2048之间),然后继续旋转电位器,当AD小于2000后,又恢复稳定与线性。 之前在AMOBBS论坛上看到类似帖子《STM32F407的ADC采样误差太大,如何解决?》。欢迎高手围观解决。 |
DMA发送函数只能被调用一次
STM32L431进入STOP1模式后ADC产生多余功耗
目前新项目,MCU采用STM32F407VGT6,文件存在TF卡(SDIO),请问能否通过F4的USB把TF卡里面的txt和excel文件拷贝到U盘?哪个USB可以实现?
STM32F407ZGT6假死现象,看门狗不起作用
STM32F407VGT6使用PLL倍频后芯片会反复重启
CAN接收丢包
关于STM32F4的ADC测量不准确
使用Cubeprogrammer无法连接、连接G431和一块H750的板子可以连上但是连另外一块H750的板子和F407的板子就直接报错,这个应该如何解决。
SPI 通信,既有单字节数据传输,又有多字节数据传输,该如正确使用 DMA?
SD卡log存储
是不是电位器的问题,可以用校准信号源输出信号,用AD测量看一下
另外逐次比较型ADC的原理和关键参数可以参考官方的各种AN,包括使用方法。
简单讲:ADC的精度和参考电压,采样时间,转换模式,校准等有很大关系。