一、问题描述
5 ?) D/ P% y# E0 o8 i# n
        在使用STM32内部FLASH时，发现有一次在读FLASH内容时直接就进入了HardFault，因为读内部FLASH是直接操作的内存，很简单的一句话，怎么也想不通是什么原因导致的。
  d( [% S* m9 M
        然后调试模式下，用Keil直接看存储器的值，发现不是全A就是？号，这就确定应该是FLASH出了问题，然后擦除出问题的扇区就发现读取不会在进HardFault的。
) M7 z0 J6 o+ F2 `
        通过读STM32H7的手册发现，H7系列和其他系列的FLASH不同，增加了ECC校验的功能，同时有状态寄存器会报一些错误，然后调试模式看状态寄存器，果然有错误，应该是在掉电时擦写FLASH，导致ECC校验出错。

二、处理
  c( F, R, J/ P% J1 @0 n% p
1.打开FLASH的中断，记住一定要解锁，否则不生效，这块就困扰了很久，最后发现是没有解锁导致的。
$ S: @. y1 |, W4 |+ N7 k: W
  Z! S, u$ f  B* G/ r; z( p: D6 c

1.     HAL_FLASH_Unlock();             //解锁
   ; c, t" p2 @$ O/ C
2.     __HAL_FLASH_ENABLE_IT_BANK2(FLASH_IT_ALL_BANK2);
   . Y% a7 @4 H% w* B; P  s
3.     HAL_NVIC_SetPriority(FLASH_IRQn,0,0);
   6 f& a6 Z& w" ?3 R: B
4.     HAL_NVIC_EnableIRQ(FLASH_IRQn);
   # u, O7 k+ J% f* D7 _
5.     HAL_FLASH_Lock();           //上锁

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+ ~6 X4 G* w+ W: z; C2.中断里擦除掉出错的扇区

9 Q  P4 @; `. A' i" T% s1 A* xFLASH_ErrorPro();是我自己写的出错处理，里面就是擦除出错扇区的处理，读取的哪个扇区地址出错了，就记录下对应的地址，然后中断里擦除即可。因为断电导致FLASH编程未完成，保留里面的数据意义也不大，所以擦掉即可。

1. void FLASH_IRQHandler(void)
   
2. {
   ; }# H4 q$ p- R
3.       HAL_FLASH_IRQHandler();
   
4.         FLASH_ErrorPro();
   
5. }

复制代码

* @1 f4 n& e$ g6 Y, K  F% m