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【经验分享】STM32H7系列FLASH出现HardFault的问题

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STMCU小助手 发布时间:2021-12-24 19:00
一、问题描述
+ L! R: `! h0 l+ S; S7 R
9 q- n( O. i, ^* g( y        在使用STM32内部FLASH时,发现有一次在读FLASH内容时直接就进入了HardFault,因为读内部FLASH是直接操作的内存,很简单的一句话,怎么也想不通是什么原因导致的。
2 w( t2 I: @. M- T* U( D2 v8 }& \* l  o. y4 c
        然后调试模式下,用Keil直接看存储器的值,发现不是全A就是?号,这就确定应该是FLASH出了问题,然后擦除出问题的扇区就发现读取不会在进HardFault的。. i5 F3 |" s2 x) }/ a0 l

7 c) e* {/ r: p9 g2 m        通过读STM32H7的手册发现,H7系列和其他系列的FLASH不同,增加了ECC校验的功能,同时有状态寄存器会报一些错误,然后调试模式看状态寄存器,果然有错误,应该是在掉电时擦写FLASH,导致ECC校验出错。7 ]) W$ N2 `! M. i

/ w2 F2 R, z6 d二、处理
- y8 g& B: w3 _4 W
0 X3 c2 f0 u( d" Z' t1.打开FLASH的中断,记住一定要解锁,否则不生效,这块就困扰了很久,最后发现是没有解锁导致的。$ j! C, V! t/ n$ q: N  Z0 a( ^

9 h0 d( P# o4 F- t+ Y2 L
  1.     HAL_FLASH_Unlock();             //解锁
    . a' s& B+ e* O! X0 a& q# z
  2.     __HAL_FLASH_ENABLE_IT_BANK2(FLASH_IT_ALL_BANK2);" j3 `4 H  Y3 d* P3 r
  3.     HAL_NVIC_SetPriority(FLASH_IRQn,0,0);
    : E# C! f0 k8 O* l6 {0 g
  4.     HAL_NVIC_EnableIRQ(FLASH_IRQn);
    6 Y' @2 {6 R" W3 K
  5.     HAL_FLASH_Lock();           //上锁
复制代码
& K! H; A) _8 g/ r" Y+ h6 L

, E% L! t2 m- |7 E2.中断里擦除掉出错的扇区
. q3 H% J: [/ `* Y" A7 j4 {/ Q1 ^+ C: ^/ S* R2 o( l, o0 t$ O
FLASH_ErrorPro();是我自己写的出错处理,里面就是擦除出错扇区的处理,读取的哪个扇区地址出错了,就记录下对应的地址,然后中断里擦除即可。因为断电导致FLASH编程未完成,保留里面的数据意义也不大,所以擦掉即可。
% r+ f6 U$ ]% v0 U4 c6 d( s4 `% ]4 K1 R9 J  [. k# W% h" y
  1. void FLASH_IRQHandler(void)# W6 L. v$ {/ g9 j8 P( K
  2. {
    ) {: l* L/ Z+ Y, l. |' h( Y4 W
  3.       HAL_FLASH_IRQHandler();
    , Q8 c* {. s, B# Z: U5 ~& G' Z+ p6 D
  4.         FLASH_ErrorPro();
    $ d1 V$ o0 Y" c; x1 u
  5. }
复制代码

+ U: O3 W, T: }2 z9 B: ^% Z7 L5 V1 y  x  ?9 ~* X7 o

: k4 y  ~$ K( j0 Y4 I' M6 c  W
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