一、问题描述

        在使用STM32内部FLASH时，发现有一次在读FLASH内容时直接就进入了HardFault，因为读内部FLASH是直接操作的内存，很简单的一句话，怎么也想不通是什么原因导致的。

$ [$ p; b* ?+ Y# _0 I        然后调试模式下，用Keil直接看存储器的值，发现不是全A就是？号，这就确定应该是FLASH出了问题，然后擦除出问题的扇区就发现读取不会在进HardFault的。
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        通过读STM32H7的手册发现，H7系列和其他系列的FLASH不同，增加了ECC校验的功能，同时有状态寄存器会报一些错误，然后调试模式看状态寄存器，果然有错误，应该是在掉电时擦写FLASH，导致ECC校验出错。
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( T8 r3 K7 w$ t! T1 k二、处理

1.打开FLASH的中断，记住一定要解锁，否则不生效，这块就困扰了很久，最后发现是没有解锁导致的。

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1.     HAL_FLASH_Unlock();             //解锁
   ) \; b" o6 A+ \+ p4 X
2.     __HAL_FLASH_ENABLE_IT_BANK2(FLASH_IT_ALL_BANK2);
   . V6 X" W$ u" w
3.     HAL_NVIC_SetPriority(FLASH_IRQn,0,0);
   0 H" D) }% }# n. ?& [
4.     HAL_NVIC_EnableIRQ(FLASH_IRQn);
   
5.     HAL_FLASH_Lock();           //上锁

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( Z$ M& W: Y- m" O2.中断里擦除掉出错的扇区
1 n$ ?3 {4 \0 f3 n7 j
FLASH_ErrorPro();是我自己写的出错处理，里面就是擦除出错扇区的处理，读取的哪个扇区地址出错了，就记录下对应的地址，然后中断里擦除即可。因为断电导致FLASH编程未完成，保留里面的数据意义也不大，所以擦掉即可。
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+ d- ]5 x: \6 E8 t8 _

1. void FLASH_IRQHandler(void)
   
2. {
   
3.       HAL_FLASH_IRQHandler();
   1 n: w9 F1 [( w5 }6 }! i) f
4.         FLASH_ErrorPro();
   $ j; Y9 ~6 F& Y' o: B
5. }

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