一、问题描述

        在使用STM32内部FLASH时，发现有一次在读FLASH内容时直接就进入了HardFault，因为读内部FLASH是直接操作的内存，很简单的一句话，怎么也想不通是什么原因导致的。
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; ]. K7 O& }% `' y        然后调试模式下，用Keil直接看存储器的值，发现不是全A就是？号，这就确定应该是FLASH出了问题，然后擦除出问题的扇区就发现读取不会在进HardFault的。
0 z8 V/ K0 q  j! O, o" S9 W
" K. ]: ]- R$ W! P        通过读STM32H7的手册发现，H7系列和其他系列的FLASH不同，增加了ECC校验的功能，同时有状态寄存器会报一些错误，然后调试模式看状态寄存器，果然有错误，应该是在掉电时擦写FLASH，导致ECC校验出错。

( h: T. G) h! \* G二、处理

1.打开FLASH的中断，记住一定要解锁，否则不生效，这块就困扰了很久，最后发现是没有解锁导致的。
5 j0 {5 D$ U# Y" P3 b8 G

1.     HAL_FLASH_Unlock();             //解锁
   
2.     __HAL_FLASH_ENABLE_IT_BANK2(FLASH_IT_ALL_BANK2);
   " _- G. v' D) P- ^0 {
3.     HAL_NVIC_SetPriority(FLASH_IRQn,0,0);
   ' [7 n+ B9 J1 V/ r. K
4.     HAL_NVIC_EnableIRQ(FLASH_IRQn);
   " J. H) s# s* [7 Y7 Q' _
5.     HAL_FLASH_Lock();           //上锁

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2.中断里擦除掉出错的扇区
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FLASH_ErrorPro();是我自己写的出错处理，里面就是擦除出错扇区的处理，读取的哪个扇区地址出错了，就记录下对应的地址，然后中断里擦除即可。因为断电导致FLASH编程未完成，保留里面的数据意义也不大，所以擦掉即可。
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; H* M8 K- ]. L$ L. j3 S

1. void FLASH_IRQHandler(void)
   , V) N( |/ L- ]' r& L  A8 ~$ A
2. {
   6 C0 D( w7 c7 u6 L1 Q2 F: T7 v. k
3.       HAL_FLASH_IRQHandler();
   7 u  k, a1 f8 q; s/ X$ a) g( ~: ?
4.         FLASH_ErrorPro();
   
5. }

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