一、问题描述
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" {& ~0 y; W1 S. m* r. ]& |        在使用STM32内部FLASH时，发现有一次在读FLASH内容时直接就进入了HardFault，因为读内部FLASH是直接操作的内存，很简单的一句话，怎么也想不通是什么原因导致的。
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7 Q, ?" m0 ]! B; ~        然后调试模式下，用Keil直接看存储器的值，发现不是全A就是？号，这就确定应该是FLASH出了问题，然后擦除出问题的扇区就发现读取不会在进HardFault的。

        通过读STM32H7的手册发现，H7系列和其他系列的FLASH不同，增加了ECC校验的功能，同时有状态寄存器会报一些错误，然后调试模式看状态寄存器，果然有错误，应该是在掉电时擦写FLASH，导致ECC校验出错。

二、处理

1.打开FLASH的中断，记住一定要解锁，否则不生效，这块就困扰了很久，最后发现是没有解锁导致的。
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1.     HAL_FLASH_Unlock();             //解锁
   + ]& M: I! D# c9 O! S" V! _5 g- ^
2.     __HAL_FLASH_ENABLE_IT_BANK2(FLASH_IT_ALL_BANK2);
   
3.     HAL_NVIC_SetPriority(FLASH_IRQn,0,0);
   ! z! r4 c+ N8 f1 L
4.     HAL_NVIC_EnableIRQ(FLASH_IRQn);
   
5.     HAL_FLASH_Lock();           //上锁

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: r% U3 x6 d+ \( E0 D0 Z2.中断里擦除掉出错的扇区
% f: `% l, h. b- S! F+ I  y
8 h$ f) W. V- @$ }FLASH_ErrorPro();是我自己写的出错处理，里面就是擦除出错扇区的处理，读取的哪个扇区地址出错了，就记录下对应的地址，然后中断里擦除即可。因为断电导致FLASH编程未完成，保留里面的数据意义也不大，所以擦掉即可。

1. void FLASH_IRQHandler(void)
   $ B2 I3 y' q" B* |
2. {
   
3.       HAL_FLASH_IRQHandler();
   
4.         FLASH_ErrorPro();
   * o( z2 _" y: F# O
5. }

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