一、问题描述

        在使用STM32内部FLASH时，发现有一次在读FLASH内容时直接就进入了HardFault，因为读内部FLASH是直接操作的内存，很简单的一句话，怎么也想不通是什么原因导致的。

3 h- y3 Z* |8 u. H        然后调试模式下，用Keil直接看存储器的值，发现不是全A就是？号，这就确定应该是FLASH出了问题，然后擦除出问题的扇区就发现读取不会在进HardFault的。
* m$ @' y" B! F9 {2 B  F5 E
        通过读STM32H7的手册发现，H7系列和其他系列的FLASH不同，增加了ECC校验的功能，同时有状态寄存器会报一些错误，然后调试模式看状态寄存器，果然有错误，应该是在掉电时擦写FLASH，导致ECC校验出错。
& x( c5 G6 J' u& p4 V2 N9 D; }- {
% D6 O5 t. ?0 M" c二、处理

* l6 u) e8 \5 D! n' [3 j1.打开FLASH的中断，记住一定要解锁，否则不生效，这块就困扰了很久，最后发现是没有解锁导致的。

9 r% X& h8 x8 w/ W( e2 Y( A

1.     HAL_FLASH_Unlock();             //解锁
   - q8 w* W6 r# D( A
2.     __HAL_FLASH_ENABLE_IT_BANK2(FLASH_IT_ALL_BANK2);
   
3.     HAL_NVIC_SetPriority(FLASH_IRQn,0,0);
   
4.     HAL_NVIC_EnableIRQ(FLASH_IRQn);
   
5.     HAL_FLASH_Lock();           //上锁

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2.中断里擦除掉出错的扇区
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* a3 ?0 I4 o# j; f, KFLASH_ErrorPro();是我自己写的出错处理，里面就是擦除出错扇区的处理，读取的哪个扇区地址出错了，就记录下对应的地址，然后中断里擦除即可。因为断电导致FLASH编程未完成，保留里面的数据意义也不大，所以擦掉即可。
7 ]  L) {; U8 J
, Y! h: Y6 {5 j, y

1. void FLASH_IRQHandler(void)
   
2. {
   
3.       HAL_FLASH_IRQHandler();
   / K, d2 h0 s5 h6 w( ^" ?
4.         FLASH_ErrorPro();
   , M# S) ?; \5 C
5. }

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