使用STM32H735DK的12bit精度的ADC3进行模拟信号采样，配置ADC3在12bit精度下，由TIM1的Trigger Output Event进行触发采样，由DMA将采样结果搬运到内存。在之前的lwip示例程序的基础上添加ADC3采样。

1、配置ADC3

H7xx系类的数据手册DataSheet中，12bit-ADC的最大参考时钟频率，以及不同进度下的最大采样率。

参考手册中，可以找到计算不同SMP配置下的转换时间计算，用来确定该配置下可以达到的最高采样速率。

时钟配置中，设置PLL2P的分频和倍频系数，设置ADC外设的时钟源。

设置ADC3的配置参数，设置DMA连续采样请求，DMA搬运数据采用缓存区循环模式，避免因为超出缓存区造成内存数据改写导致程序崩溃。触发源选择Timer1 Trigger Output Event。

2、配置TIM1

ADC3的采样由Timer1 Trigger Output Event驱动，Timer1的触发频率也就是ADC3的采样速率SMP。设置Timer1以10kHz进行触发，实现ADC3以10kHz的采样率采集模拟信号。

通过查找手册可以确定TIM1挂在在APB2总线上，以及如何计算TIM1在采用内部时钟时的时钟频率。

设置TIM1采用内部时钟，Channel1设置为输出比较模式，并设置相应的参数，实现10kHz的输出触发频率。

3、MPU配置

CortexM7页面中使能，配置内部RAMD1的MPU设置，避免DMA访问地址空间时出错。

4、代码添加

定义用于接收DMA数据的缓存区

#define ADC_CONVERTED_DATA_BUFFER_SIZE   ((uint32_t)  5120)   /* Size of array aADCxConvertedData[] */
ALIGN_32BYTES(static uint16_t   aADCxConvertedData[ADC_CONVERTED_DATA_BUFFER_SIZE]);

main函数中，在完成外设初始化后，启动ADC DMA采样以及TIM1。

HAL_ADCEx_Calibration_Start(&hadc3, ADC_CALIB_OFFSET, ADC_SINGLE_ENDED);
  if (HAL_ADC_Start_DMA(&hadc3,(uint32_t *)aADCxConvertedData,ADC_CONVERTED_DATA_BUFFER_SIZE) != HAL_OK)
  {
    Error_Handler();
  }

  HAL_TIM_Base_Start(&htim1);

烧录程序到开发板，在现场表达式中对aADCxConvertedData进行监控。在输入信号为1kHZ的方波信号式，可以看到在10kHZ采样率下，每个波形由10个采样点构成。