一、主芯片选用STM32L476RCTx; 二、CubeMx版本为4.23; 三、配置如下: |
问个关于STM32L4 SPI读数据,前3个字节永远是0
STM32L432 2个SPI同时使用的问题
STM32L476 ADC采集内部温度传感器电压值
STM32L431通过串口下载程序问题
ST的hal库有问题手头有STM32L4或STM32F7的帮忙测试DMA SD卡
STM32L476-Discovery开发板如何进行串口固件烧写
大家有用到STM32L433的CAN通信的吗?
STM32L4 FFT 自带arm_math.h编译不成功
想问一个关于STM32L475 flash的问题
谁有STM32L476的编程手册,传一个,感谢
Repository\STM32Cube_FW_L4_V1.10.0\Projects\STM32L476G_EVAL\Examples\ADC\ADC_DMA_Transfer
/* ### - 2 - Start calibration ############################################ */
if (HAL_ADCEx_Calibration_Start(&AdcHandle, ADC_SINGLE_ENDED) != HAL_OK)
{
Error_Handler();
}
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1、使用12位的AD,误差接近50mV;
2、用示波器测试基准为3.28V(虽然没有3.3V但是3.28V还是比较稳,无干扰征兆);
3、示波器检测VDD,VSS均很稳定,无干扰现象;
4、测试单片机的AD输入端,TEMP1,也很平稳,没发现干扰;
5、用VSS直接并到TEMP1,AD转换结果为0x000;
6、用VDD并到TEMP1,测试的结果并不为OxFFF,而是0xFBE附近;
一、STM32F103系列的AD转换,存在一个校准的过程,也就是在程序刚开始必须进行自校准,然后开启AD转换。但是STM32L476用CubeMx生成的库函数,仔细查看后没有留下相关的校准函数,目前还有待思考该过程?
二、外围电路,包括基准和跟随还有阻抗匹配,没有发现不良现象,不知道有没有大神提供一下思路?
三、目前不清楚是硬件原因还是软件原因导致12位AD误差接近50mV.希望大神伸出援助之手!
我也是刚解决这个问题,上来一看,发现还是有校准过程。也就是这个函数。
另外可以直接看系统自带的库函数:
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ADC_SAMPLETIME_6CYCLES_5
采样时间好像太短了,就4个输入ADC,统一使用ADC1设置4个不同通道就够了,
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((TIME) == ADC_SAMPLETIME_56CYCLES)
((TIME) == ADC_SAMPLETIME_84CYCLES)
((TIME) == ADC_SAMPLETIME_112CYCLES)
((TIME) == ADC_SAMPLETIME_144CYCLES)
((TIME) == ADC_SAMPLETIME_480CYCLES)
可以放到最大
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