
已经生产的产品 ,使用的是STM32F427VGT6 @ LQFP100 + FLASH 1024 KB ,之前的生产的时候正常使用。新买了300颗料,焊接了80个,超过 1/3 的产品启动异常,表现为RTC 启动超时(外部晶振,无法启动或者启动时间长达5秒),这概率让人冒汗啊... 一开始是无法启动,查了下是RTC启动超时后停住了,之前也遇到过该问题,但是概率很小,换了RTC 晶振启动电容后就解决了。 可是,异常的产品概率越来越大,感觉不正常了。将能启动和不能启动的产品上的MCU交换,能启动的产品换了不能启动的MCU 后不能启动了,不能启动的产品换了能启动MCU 后能启动了,开始怀疑MCU买了水货了... 对比读了MCU的UID 和FLASH大小,发现不能启动的这批次MCU 的 UID 基本毫无规律,FLASH 大小无法读出(只有一个可以读出);之前正常生产的MCU UID 高字节相同(同一批次,记忆中同一批次的UID高字节也好像是相同的或者很接近),FLASH 大小读出正常,具体数据如下: 现在的427卖价达160元,卖家说是从正规的渠道拿的货,具体不知道了。 请问有没有哪位大虾遇到过这种情况,这个能判定MCU是假的或者有问题吗? 上半年还遇到过STM32F103 内部始终为6MHz 的,实际应该是 8 MHz,导致串口通讯干不起来... |
STM32F407VET6 I2S 采用DMA传输问题
有STM32F4倒车雷达响应例程吗?
STM32F429I倒车雷达响应
STM32多通道FFT运算异常
在其他电脑上编译成功没有错误并且能够烧录,换了电脑之后编译出现一堆错误,并且不能烧录程序
SD卡初始化第一次初始化后再次初始化时会失败。
串口重定向接收不同
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经过光耦之后,脉冲计数功能为啥不能实现?
STM32F407 ADC Dual regular simultaneous only 模式下最高采样率仅 96 kHz,960 kHz 无法工作,求助!