
基于STM32的锂动力电池检测装置的设计
基于 STM32 的电池管理系统
stm32g474 板卡偶发flash的某块代码区被擦除
STM32G0B1VE的CAN过滤器个数问题
请大佬帮忙分析VNL5090N3TR-E工作中损坏的原因,谢谢
STM32有没有哪个系列针对UL60370-1论证有所规划?
ST MCU最新MCAL版本如何确认?在哪里下载?
stm8s005选择TIM1通道2(PC2)做输入
stm8AF5288休眠唤醒后,只有can通讯无法恢复(AD与TIM正常工作)。
向大佬求助:
VNL5090N3TR-E,低边驱动芯片在工作中发现一片损坏。
我们想弄清楚损坏的原因,奈何请第三方切片分析太贵。
在此请教各位大佬:1、具体的失效模式和电路图有吗?2、想了解这颗芯片的实际损坏条件是什么? 也就是说超过多高的电压或持续多长时间,芯片会损坏 ?是否有办法可以计算出来,它的损坏条件?3、是否有其他的办法,可以找到相关的支持?
麻烦给个支持呀,不甚感激!!
谢谢!
电子器件损害原因无非过压,过流,过温。从电源和驱动输出上检查下,电源输入是否存在电感,引线长的还有引线分布电感,断电瞬间可能有反压,电源输入加自恢复和TVS进行峰值过压限制,输出的话,适当隔离,且也进行峰值电压的限制,有可能是设备开关在PCB导线上感应的脉冲电压,处理一下,进行长时间测试。也可示波器隔离下,仔细检查电源和输出,看问题在哪里。