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VNL5090N3TR-E 低边驱动芯片在工作中发现一片损坏

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非小白 提问时间:2023-7-19 16:35 / 未解决
收藏 评论2 发布时间:2023-7-19 16:35

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2个回答
非小白 回答时间:2023-7-19 16:39:41

向大佬求助:

VNL5090N3TR-E,低边驱动芯片在工作中发现一片损坏。

我们想弄清楚损坏的原因,奈何请第三方切片分析太贵。

在此请教各位大佬:1、具体的失效模式和电路图有吗?2、想了解这颗芯片的实际损坏条件是什么? 也就是说超过多高的电压或持续多长时间,芯片会损坏 ?是否有办法可以计算出来,它的损坏条件?3、是否有其他的办法,可以找到相关的支持?

麻烦给个支持呀,不甚感激!!

谢谢!

USALCD 回答时间:2023-7-25 20:06:35

电子器件损害原因无非过压,过流,过温。从电源和驱动输出上检查下,电源输入是否存在电感,引线长的还有引线分布电感,断电瞬间可能有反压,电源输入加自恢复和TVS进行峰值过压限制,输出的话,适当隔离,且也进行峰值电压的限制,有可能是设备开关在PCB导线上感应的脉冲电压,处理一下,进行长时间测试。也可示波器隔离下,仔细检查电源和输出,看问题在哪里。

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