STM32 和 STM8 ClassB功能安全设计包

最后给大家介绍的是STM32和STM8 ClassB功能安全设计包，该设计包针对适用于家用电器领域的IEC60335-1和IEC60730-1标准。源码提供已被IEC, UL, CSA等机构认证过的自检库。在STM32的软件包中还提供基于IAR, KEIL, SW4STM32等三个IDE的例程供用户参考。
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（1）ClassB功能安全设计包

如上表所列，ClassB功能安全设计包有三个：
- X-CUBE-CLASSB，基于STM32CubeHAL驱动，支持表中列出的所有STM32 MCU系列。其中STM32H7 ,G0 ,G4 ,WB 在v2.3.0版本中支持，其他的系列在v2.2.0版本中支持。X-CUBE-CLASSB中的自检库通过UL认证，同时符合IEC/UL/CSA 60730-1和60335-1标准；
- STM32-CLASSB-SPL， 基于STM32标准外设库，STM32F0，F1，F3这三个系列提供认证过的软件库，STM32F2，F4，L1的软件库由前三个派生而来；
- STM8-SafeCLASSB，针对STM8的产品。
其中STM32-CLASSB-SPL和STM8-SafeCLASSB中的自检库都通过了VDE认证，符合IEC60730-1和60335-1标准。
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! [8 s' L8 z' b5 l0 Y8 {3 c（2）ClassB安全手册
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前面提到的三个ClassB 功能安全设计包，分别各对应一个应用笔记，为STM32和STM8用户使用其中的软件库提供指导和说明。

STM32和STM8 MCU的功能安全设计包

从上面这张图，我们可以看到所有STM32和STM8 MCU的功能安全设计包的支持情况。以上所有的功能安全自检库都符合MISRA-C规范。

4 l8 }" L4 ?! c应用笔记
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除了前面提到的安全手册和软件包用户指南以外，还有一些应用笔记在开发安全相关代码时可以参考。例如AN4750中就针对STM32应用中的软错误（可恢复的随机失效）的处理方法进行了详细说明。AN4187，AN5342，AN4838分别对STM32微控制器的CRC, 存储器ECC保护功能和MPU进行了说明。设备运行环境的电磁干扰也会造成随机的硬件故障，所以我们在设计硬件时需要尽可能提高设备的电磁兼容性，关于这部分可以参考AN1015，AN1709和AN2860这三篇应用笔记。

本期总结
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本文我们主要给大家介绍了关于功能安全，ST为开发者提供了什么资源。如果大家想了解具体实施的细节，除了前面提到的这些英文资料外，我们还有一个中文的关于STM32 ClassB软件库的培训材料，大家可以到www.stmcu.com.cn中文网站下载，或者登陆AI电堂观看视频。
- J' f, I* i% o. V$ D4 R" x7 }另外还有两篇我们本地FAE写的实战经验（LAT），一篇是针对大家经常会遇到的如何在IAR和KEIL中计算程序的CRC值的问题，一篇是关于如何将X-CUBE-CLASSB的代码移植到客户自己的工程中去。这两篇文档也可以在我们的中文官网下载到。
谢谢大家的关注，后面我们还会继续在更多的MCU系列上提供功能安全设计包，以及给开发者们更详细的指导资料，敬请期待！