
有幸参加了ST最新的G4系列MCU的测评。之所以会选择参加G4系列MCU的测评,是看中了G4系列优越的性能和较高的性价比,G4作为F3的升级系列,主频高达170MHz,内嵌了数学运算加速器,具有丰富的内置数模外设,运放、比较器、DA、AD等,硬件加密使用的是AES-256,带有双安全存储区域。 手头正好有电机控制方面的项目,准备选型一款合适的MCU,而G4系列典型应用之一正是电机控制,不巧的是收到开发板时订购的BLDC评估板一时半会还到不了手,临时改变评测项目,已经量产的工业仪器MCU替换为G474,看功能和性能方面是否可以达到或超越现有的MCU。 : g2 Q1 [5 M+ e+ m 到手的Nucleo-G474开发板,先来张特写。 ![]() Nucleo-G474的板载烧写器MCU已经不是传统的STM32F103了,而是升级到了STM32F723,唯一遗憾的是烧写器和主板是一体的了,不是传统的间断连接方式,不能和主板分离,成为一个单独的烧写器。 5 c' o: I, x+ F$ ^& h) T" e为方便测试,且最大限度保护好Nucleo-G474原板,不直接在原板上焊接连线,特地打了1片专用测试板。这里要感谢下深圳某创PCB专业制造公司,速度快,还便宜,只要5块钱,且SF包邮(前提是尺寸不能超过10X10CM)。测试板上包括本次评测要用的外围电路,包括指示灯、RS232串口、DA、AD、CAN-FD,其中CAN-FD将放在后期测试。- A* p) g; p6 q* D 首先测试传统的点灯,板载Led和自制Led交替点亮。用CubeMX配置好硬件资源,keil5编译程序,然后将程序下载到Nucleo-G474开发板,注意初次擦除烧写会报错,解决方法是从官网下载STSW-LINK007升级,就可以下载程序了。 e7 P, a# f: J2 j& K3 t 程序运行效果如下所示:+ u& @+ t: R4 r4 }( t ![]() ![]() 接下来就是测试最主要的部分,手头已量产的产品是专用的传感器,MCU通过DA模块输出控制电压(电压大小需根据不同的环境可调),AD模块采集不同的被检测对象所对应的模拟量大小并转换成数字量,主控程序根据采集到的数字量大小,输出对应的控制。 ![]() CubeMX配置G474的资源如下图所示: ![]() ![]() Main主程序:3 y5 {, S! n; @% X! ~$ Y6 ?* u int main(void)2 |3 I4 q0 C; U* i; k { /* USER CODE BEGIN 1 */ % o% w: B5 z2 o/ Y9 } button_no = 0; , }: y$ x( Z) B3 g /* USER CODE END 1 */ 4 B1 R1 v0 F' o# T/ g1 g/ V /* MCU Configuration--------------------------------------------------------*/9 C! d% f! |" l; ?" f- q0 r 7 w1 ?* @" w6 q3 v" o9 @+ x /* Reset of all peripherals, Initializes the Flash interface and the Systick. */ HAL_Init();) Q3 O) P9 x! ~ P/ U' d6 c5 j* h ( O2 G- P" L8 O# V1 |+ v /* USER CODE BEGIN Init */$ |6 i5 Y8 B9 R& x # \; [7 e: l; l, m; Q /* USER CODE END Init */ & {: f, ^) e/ u, ], m7 m /* Configure the system clock */ SystemClock_Config();: V2 X. _( [4 h ; M' Q" v3 N; M8 E; `8 m ` /* USER CODE BEGIN SysInit */ - {& G6 @4 V5 B8 r /* USER CODE END SysInit */7 |6 j5 K$ p) @2 L /* Initialize all configured peripherals */ MX_GPIO_Init(); MX_TIM3_Init(); 0 `4 U' s! c6 e) b4 v7 ]/ A8 ~- y MX_UART4_Init(); ) N) D8 n2 ~/ U: g MX_ADC2_Init(); 0 m( R5 ~* Q, S* I( P' S/ a- H MX_DAC2_Init(); /* USER CODE BEGIN 2 */ % g& V) a6 u" I! a+ |. B* C, [ if (HAL_DAC_Start(&hdac2, DAC_CHANNEL_1) != HAL_OK) ( }: M& d0 f2 P( h5 ^% w { Error_Handler(); } if (HAL_DAC_SetValue(&hdac2, DAC_CHANNEL_1, DAC_ALIGN_12B_R, 1024) != HAL_OK) { Error_Handler(); }8 T% P# `" S' s6 p ' ` ~0 m: `& }5 [, n if (HAL_ADC_Start(&hadc2) != HAL_OK) { Error_Handler(); }6 u8 q- ]" X! Y6 U: ^& e 0 o0 u' W1 e$ _0 W7 r3 m, w AD_Sample = 0; AD_Sample = HAL_ADC_GetValue(&hadc2); __HAL_ADC_CLEAR_FLAG(&hadc2, ADC_FLAG_EOS);1 l. U. x2 C3 c7 z 9 { A7 `% b) e S) @: G: K9 d: ~ 5 E( F& r) l. ~0 ] /* USER CODE END 2 */ /* Infinite loop */ /* USER CODE BEGIN WHILE */ while (1) { /* USER CODE END WHILE */ ) W; ^) p4 L( }9 ?) Y /* USER CODE BEGIN 3 */ if (HAL_GPIO_ReadPin(B2_GPIO_Port, B2_Pin) == 0x01U)( [( h {: O9 a: c {+ C* ~! s6 e" g1 E8 K- J% ~ button_no = 0x01U;- |7 g8 Q: f) p* t4 h+ v- ^+ F" x } else button_no = 0x00U;4 e$ d- W" E# ]( ]0 O HAL_GPIO_TogglePin(LD2_GPIO_Port, LD2_Pin);% E; B' h! n8 g2 f/ O5 ]+ ~$ q; O HAL_GPIO_TogglePin(LD3_GPIO_Port, LD3_Pin); if (HAL_ADC_Start(&hadc2) != HAL_OK) { Error_Handler(); } HAL_Delay(50);' _5 `. D9 \; r2 q AD_Sample = 0;( W& ^ g; v; n if (HAL_ADC_PollForConversion(&hadc2, 10) == HAL_OK) { AD_Sample = HAL_ADC_GetValue(&hadc2); sprintf(aTxBuffer,"AD value = %5d ",AD_Sample); if (HAL_UART_Transmit(&huart4, (uint8_t *)aTxBuffer, 26, 5000) != HAL_OK)/ A+ ~; E7 w- A! T$ x/ K { Error_Handler(); }7 w% {0 L. Y) y* |* K/ ~1 n __HAL_ADC_CLEAR_FLAG(&hadc2, ADC_FLAG_EOS); /* Insert delay 100 ms */5 T+ ~2 }8 t/ ~ if (HAL_ADC_Stop(&hadc2) != HAL_OK) { Error_Handler(); }/ t+ n$ n; j( e# P6 N) u5 @" Q+ e if (button_no == 0x00U) HAL_Delay(2000); else HAL_Delay(100);, {/ m( X4 [1 S. t$ j: }- I }- d/ T0 n' l# {4 ~; e } /* USER CODE END 3 */! f4 M9 I7 n& \0 r# n* X! x }* |; O& t& G; f2 a( L. } d! L) c 3 U4 B- R1 r" i$ w. |" N ; O5 `; _3 C) V2 _: d6 \" a' |8 n+ L& S 测试结果:4 u* G2 n, a0 g. c 下图为传感器中没有被检测对象时采集到的数据: ![]() 检测较小物体时采集到的数据: ![]() 检测较大物体时采集到的数据:# J# d+ X$ p& Q; k5 e ![]() 以上所有检测数据为每秒采集一次,通过RS232串口传输到PC显示,该数据为AD模块的原始数据,分辨率12bit,未经任何算术平均以及数字滤波处理。从采集的结果看,AD模块的精度完全满足项目的需要。 由于时间不是很充裕,G474的很多优异性能尚未加以测试,尤其项目中要用的CAN总线,由于G4系列的CAN已升级为CAN-FD,手头尚没有对应的带CAN-FD的上位机进行测试,只能留待后期硬件条件具备时再做进一步测试。7 L$ x8 p/ T5 a! c, h |
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