1 前言
客户反馈在批量生产阶段，发现部分产品的 MCU 的 RTC 在低温（0℃）下工作不正常，但是在常温下又是正常的，且其他正常的 MCU 的 RTC 在常温与低温下都是正常的。


2 问题跟进与分析
通过与客户邮件沟通，了解到客户使用的 MCU 型号是：STM32F030C6T6TR。在产品的主从结构中主要用作电源管理和时钟管理。通过客户的描述，似乎相同型号不同片子都存在较大的差异。
由于时间紧急，在了解到初步信息后立即拜访客户，针对客户认为有问题的 MCU 芯片做针对性试验。通过STM32CubMx 生成测试工程，分别使用 LSI(40K)，LSE(32.768K)，RTC 工作时每秒通过 LED1（PB5）取反一次(通过 LED1 灯是否闪烁来指示 RTC 是否工作正常)，然后分别测量 OSC 管脚与 PA8 脚（输出 LSI 或 LSE），并对比 ST 官方的 NUCLEO-F030 板，最终测试结果如下：




通过测试结果，我们得到如下信息：
当使用 LSI 时，无论常温还是低温下都能正常工作。
当使用 LSE 时，常温下能正常工作，但在低温（0℃）时，RTC 不再工作（LED1 停止闪烁），且 PA8 管脚
无输出，但保持为高电平，且此时 OSC 管脚此时是存在 32.768K 的波形的。
通过修改负载电容 C1&C2 的电容值从 5.1pF 修改到 6.8pF 时，原本低温下不工作的 RTC 又能恢复正常工作。 对比 ST 官方的 NUCLEO-F030 板子，在常温与低温下均能正常工作。







Figure 1 OSC 脚在低温下的波形Figure 2 PA8 管脚在低温下的波形从测试结果来看，通过修改负载电容的方式能让原本不能正常工作的 RTC 恢复正常工作，这个似乎为客户的负载电容不能精准的匹配系统的原因所致。
但客户对于这种解释是不接受的，理由是现在设计的负载电容 5.1pF 是通过测试后的值，精度可以达到 6.5ppm,但如果改为 6.8pF，那么精度将会变到大约 30ppm，这个会影响到 MCU 的 RTC 的时间精准度，系统在长时间运行后，时间必然会偏差很大，超出设计合理范围，这个是不允许的。

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