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【经验分享】STM32H7 ADC 过采样对精度的影响效果

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STMCU小助手 发布时间:2021-12-27 17:00
测试条件:0 E' X0 @+ o4 f
% F1 K3 S5 f, }9 w  x/ g8 @. N0 b
STM32H7
' r1 z5 U4 R' s2 ?0 \杜邦线+鳄鱼夹5 h+ f* h& j+ V- G
36M时钟,1.5cycle采样时间
# _% b9 Y# X' S0 z- c# U100k采样速度
, _  ~+ {- n" [6 B/ ^& @采集直流SDG 1032X信号发生产生的1V直流
5 w/ i& O# R2 t9 e" G测试过程中,让TIM去触发ADC采集100个点,通过printf打印到出口助手,观察数据,去掉极其个别噪声过大的点(毕竟是鳄鱼夹+杜邦线连接)。然后观察大部分数据的电压波动,找到最大和最小的差值。
! `# |6 u' j0 }- i  \% h  S+ t" y" c, C
" R6 y; _# i; U0 ~# k0 a$ [注意这里只测量了波动,没有测量稳定值和理想值之间的电压差,因为直接用杜邦线接鳄鱼夹,会有阻抗等别的问题,绝对误差没有太大意义。1 S, H1 w1 I/ I! Y
$ T) A% `9 t! {
~F3GM7MNTK[AG%](T_[%6I5.png

# u0 c' A) O1 A( T- C0 I1 a( R0 _0 ], d* W+ j  p
考虑过采样相当于取平均,测量了1,2,4倍过采样后,其他倍数的误差大致可以预估出来,大致是2倍缩小。
6 M" R0 n8 Y' g* i
% G9 n: i- a8 ~这里测试条件受限,看到64-1024倍的过采样基本分不出区别。如果配合上诸如SMA连接,跟随器等外部电路,测量效果更佳。" t3 x9 E5 g  ?+ G0 W: Y

- m& R; u: X  a9 j# K& d7 V% M6 Z0 [5 s" l
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