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【经验分享】STM32H7 ADC 过采样对精度的影响效果

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STMCU小助手 发布时间:2021-12-27 17:00
测试条件:
9 W! D! q! k' i5 o7 P4 |1 b. r0 Q4 ^
STM32H7
, M2 y* h1 [7 f* E0 H' O3 Z杜邦线+鳄鱼夹
, ^4 @7 L* N: C36M时钟,1.5cycle采样时间
) [, T8 x: k" f! V; |9 c- D100k采样速度" W8 h4 B+ R: }3 n3 ]5 _
采集直流SDG 1032X信号发生产生的1V直流
% `% k! Z  o& z. H测试过程中,让TIM去触发ADC采集100个点,通过printf打印到出口助手,观察数据,去掉极其个别噪声过大的点(毕竟是鳄鱼夹+杜邦线连接)。然后观察大部分数据的电压波动,找到最大和最小的差值。
6 u: j! Z3 I* n) }
* r- j: _1 t" G$ \  F: r, q注意这里只测量了波动,没有测量稳定值和理想值之间的电压差,因为直接用杜邦线接鳄鱼夹,会有阻抗等别的问题,绝对误差没有太大意义。( t0 ~* h+ G) w  S

6 W+ X8 ^+ l4 ?, [0 ?' U% W
~F3GM7MNTK[AG%](T_[%6I5.png
3 d" R4 [- l7 A3 u
" P( x1 z( n: i, l6 ]
考虑过采样相当于取平均,测量了1,2,4倍过采样后,其他倍数的误差大致可以预估出来,大致是2倍缩小。
. }0 s0 U5 q  R
/ R4 L5 b, \3 }0 y  G; Y7 p1 ~这里测试条件受限,看到64-1024倍的过采样基本分不出区别。如果配合上诸如SMA连接,跟随器等外部电路,测量效果更佳。
; U$ G" T( h! r% b; \# D" E( H
% j0 N1 [3 S* B. t. I& P; m% S
4 L* W' B- {/ c" D9 l$ g: }
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