求助各位大虾。   最近在调试STM3F103C8T6的ADC，参考电压使用的是3.3V。产品已经做出来了，结果发现3.3V偏移很大。
   网上查找资料以后，发现ADC17这一路是Vref的电压值，并且基本上不变。
   想着使用这个基准值，但是其他G0或者F0芯片都有说明，基准标定值的可读地址在什么地方。唯独F1芯片没有介绍。
   哪位大侠知道这个标定值的可读地址在哪里嘛？
   感谢！！
   附图F0芯片的测试电压和校准地址：
  

需要自己读ADC通道17

我这样理解，F103没有这样的地址。
VREFINT是一个稳定的电压值，在IC内部连接到了ADC1的channel 17，要启动ADC来读出这个参考值。
由于Vcc是变化的，其他ADC的读数就需要用参考值来修正。
F103不会自动提供这个参考值，每一次读取ADC，都要读一次channel17，然后计算出ADC的修正值。

radio2radio 发表于 2020-11-23 23:01
我这样理解，F103没有这样的地址。
VREFINT是一个稳定的电压值，在IC内部连接到了ADC1的channel 17，要启动 ...

谢谢！
与st的FAE沟通，回复，F103确实没有这样一个地址。

_sa 发表于 2020-11-24 12:20
需要自己读ADC通道17

是的。谢谢！

我理解的是F1现在直接当甩手掌柜了，我不管参考电压是多少了，你说是多少就是多少，提供给我，然后我就当参考电压完事了

VREFINT虽然是一个稳定的电压值，但个体差异也比较大，
1.16V-1.24V之间，如果需要更准确的值，
1、采用更精确的源
2、可以采用校准的方法，采用稳定的3.3V供电，准确测量3.3V实际电压值，获取VREFINT读数，倒推准确的VREFINT电压值。

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F1太老了，没有3.3V 出厂基准值地址

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STM32F103  是ST最早推出的32位产品，已经有13年了，当时可能没有考虑到有这种需求。后期的产品增加了生产校准的环节，并存贮下来给用户使用。 参照这个思路，楼主也可以考虑自己增加校准，毕竟内部FLASH是可以在应用中编程的，如果产品本身有外部EEPROM就更方便了。 此外由于ADC的原理是与内部REF电压比较的，所以也可以依照传统方法，稳定VDDA的电压来保证ADC装换结果的稳定和准确，当然这需要改善一下硬件来实现

ldptest 发表于 2020-11-24 22:19
VREFINT虽然是一个稳定的电压值，但个体差异也比较大，
1.16V-1.24V之间，如果需要更准确的值，
1、采用更 ...

butterflyspring 发表于 2020-11-30 10:37
STM32F103  是ST最早推出的32位产品，已经有13年了，当时可能没有考虑到有这种需求。后期的产品增加了生产 ...

目前使用了一个基准芯片解决这个问题。
后续还是尽量使用新的芯片吧，比如G系列