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STM32F407VET6芯片一上电,引脚PB3,PE2,PE3,PE4,PE5,PE6 的寄存器GPIOx_MODER自动设定为“复用功能模式”,GPIOx_AFR自动设定为AF0。 如果软件想把GPIOx_MODER改成“通用输出模式” 或 GPIOx_AFR改成“AF12”,都无法改变设定值!导致无法使用其它功能。 用的IAR V9开发平台,使用SWD接口调试,在单步执行程序时,能看到GPIOx_MODER与GPIOx_AFR分别固定为2和0,强制改变无效。 请问有什么办法释放PB3,PE2,PE3,PE4,PE5,PE6引脚为其它功能吗? 我又发现,用JTAG单步调试时,才会恢复GPIOx_MODER与GPIOx_AFR的出厂设置,真是搞不懂啊 |
STM32F413晶振不起振
STM32F407调试接口报错:SWD/JTAG Communication Failure
STM32F407IET6
结构体
LY的SPI PSRAM搭配STM32F0/STM32F1/STM32F2/STM32F3/STM32F4/系列
STM32F4高级定时器的刹车功能
stm32f4中有ADC校准的函数吗?
stmf407VETx烧录时报错
STM32F4系列有对PI/SI仿真要求的文件吗?比如PDN Targets and Decoupling Example
关于12V甚至高压,简单的电阻分压测试ADC测试电路,是否容易把ADC接口烧坏?
终于找到解决方法了,删除IAR工程目录下的settings文件夹就OK了
首先非常感谢上面老师的回复
以下是我写的软件调试中的图片:
CUBE库测试了确实没有问题,我反复测试了多次,发现与代码无关,因为我用项目工程强制调试STM32CubeMX生成的IAR工程(芯片FLASH中烧录的是STM32CubeMX初始代码,IAR打开的是我写的软件,然后禁止下载直接调试),也会出现以上图片的现像。初步判断是IAR工程文件有问题导致。我会进一步找原因。