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STM32H7系列芯片下的ECC功能如何测试?

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土拨鼠先生 提问时间:2024-12-22 23:10 / 未解决

各位工程师好:

我这里采用的是STM32H755的芯片,参考了文档《rm0399-stm32h745755-and-stm32h747757-advanced-armbased-32bit-mcus-stmicroelectronics》和《an5342-STM32H7系列内部存储器保护的纠错码(ECC)管理》均说明了无法关闭RAM区的ECC,这就导致虽然可以按照例程那样读取非初始化的区域来触发ECC中断,但是无法关闭ECC就无法测对于单bit错误。特别是位错误下,原始数据,读出数据,以及ECC码无法同时看到。

1.想问下STM32官网工程师,是否存在关闭ECC,严格实现单bit和双bit错误的验证,使得可以人为修改某1bit,而后可查看原始数据、经过ECC纠正的数据、以及ECC码

2.flash区ECC功能的验证,是否存在如RAMECC_ErrorCount那样的例程来指导flash区ECC功能的使用。

方便的话,看可否电话赐教15261813151

收藏 评论1 发布时间:2024-12-22 23:10

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1个回答
xmshao 回答时间:18 分钟前
对于STM32H755芯片,其RAM ECC是不能关闭的,即总是开启的。


这里推荐一篇应用笔记AN5342,它有针对STM32 ECC功能做整体介绍,有些应用和测试方案,你可以看看。


到www.st.com或www.st.com.cn搜索即可。

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