各位工程师好：

我这里采用的是STM32H755的芯片，参考了文档《rm0399-stm32h745755-and-stm32h747757-advanced-armbased-32bit-mcus-stmicroelectronics》和《an5342-STM32H7系列内部存储器保护的纠错码（ECC）管理》均说明了无法关闭RAM区的ECC,这就导致虽然可以按照例程那样读取非初始化的区域来触发ECC中断，但是无法关闭ECC就无法测对于单bit错误。特别是位错误下，原始数据，读出数据，以及ECC码无法同时看到。

1.想问下STM32官网工程师，是否存在关闭ECC，严格实现单bit和双bit错误的验证，使得可以人为修改某1bit,而后可查看原始数据、经过ECC纠正的数据、以及ECC码

2.flash区ECC功能的验证，是否存在如RAMECC_ErrorCount那样的例程来指导flash区ECC功能的使用。

方便的话，看可否电话赐教15261813151

对于STM32H755芯片，其RAM ECC是不能关闭的，即总是开启的。


这里推荐一篇应用笔记AN5342,它有针对STM32 ECC功能做整体介绍，有些应用和测试方案，你可以看看。


到www.st.com或www.st.com.cn搜索即可。

xmshao 发表于 2024-12-23 14:00
对于STM32H755芯片，其RAM ECC是不能关闭的，即总是开启的。</p>
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谢谢，不过这篇文章我看过了，但是理解下来其对于严格的单bit错误检测的验证仍然缺少手段。特别是，ECC功能发挥作用前的原始数据无法查看，也就无法进一步证明ECC功能的正常性。