为了访问Cortex ™ -M3 TAP 对芯片进行调试，必须：
1. First, it is necessary to shift the BYPASS instruction of the boundary scan TAP.
2. Then, for each IR shift, the scan chain contains 9 bits (=5+4) and the unused TAP instruction must be shifted in  using the BYPASS instruction.
3.  For each data shift, the unused TAP, which is in BYPASS mode, adds 1 extra data bit in the data scan chain.
 
Note: Important : Once Serial-Wire is selected using the dedicated ARM JTAG sequence, the boundary scan TAP is automatically disabled (JTMS forced high)。
 

以上该如何理解？？？
 
现在IDCODE可以读到，但是读写有问题。
①for each IR shift, the scan chain contains 9 bits (=5+4) and the unused TAP instruction must be shifted in  using the BYPASS instruction.
该如何实现？
 
②For each data shift, the unused TAP, which is in BYPASS mode, adds 1 extra data bit in the data scan chain.
adds 1 extra data bit是放在最后移入吗？
该如何实现正确读写？
 
请教大神指导指导！
是否有Demo可供参考？
 
 
 

 请问有ST的 FAE / AE 吗？
希望得到大神的指点！

TAP是啥意思哦

这个问题比较深入呢，帮你顶下吧~

TAP是啥意思哦

Boundary scan是一种测试方法

STM32F10xxx JTAG TAP 连接
STM32F10xxx微控制器内部串联了两个JTAG TAP。
TMC TAP专门用来进行测试（IR寄存器为5比特位宽）和Cortex-M3 TAP（IR寄存器为有4比特位宽）。
为了访问Cortex-M3 TAP对芯片进行调试，必须：
1.首先，必须将BYPASS指令移位输入TMC TAP。
2.其次，在移位输入IR时，每个扫描链包含9个比特位（=5+4），对于不用的TAP，必须输入BYPASS
指令
3.移位输入数据时，不用的TAP处于BYPASS模式下，因此数据扫描链需要额外添加一位比特位。

没用过TAP, 支持一下

7楼已经翻译出来了啊！！！！！！

 这个TAP好像是用来做调试工具的吧

TMC TAP专门用来进行测试（IR寄存器为5比特位宽）和Cortex-M3 TAP（IR寄存器为有4比特位宽）。
为了访问Cortex-M3 TAP对芯片进行调试，必须：
1.首先，必须将BYPASS指令移位输入TMC TAP。
2.其次，在移位输入IR时，每个扫描链包含9个比特位（=5+4），对于不用的TAP，必须输入BYPASS
指令
3.移位输入数据时，不用的TAP处于BYPASS模式下，因此数据扫描链需要额外添加一位比特位。